表明粗糙度及其测量.ppt

WUST 图4-17 表面结构要求标注在形位公差框格的上方 图4-18 表面结构要求标注在圆柱特征的延长线上 图4-19 圆柱和棱柱的表面结构要求的标注 4.4 表面粗糙度的测量 国标规定的高度参数值是指它的最大允许值。对于有一定加工纹理方向的表面，应在垂直于加工纹理方向进行测量；对于无一定加工纹理方向的表面，如电火花加工表面等，应在几个不同的方向上进行测量，然后取最大值作为测量结果。另外，测量时还应注意，不要把表面缺陷，如沟槽、气孔、划痕等测量进去。 表面粗糙度的检测方法，目前主要有比较法、光切法、干涉法、针描法等。 4.4.1 比较法 比较法是将被测表面与已知高度参数值的粗糙度比较样块相比较，通过视觉和触觉来判断被测表面粗糙度的方法。为了使判断比较准确，选用粗糙度比较样块的材料、表面形状和加工方法应尽可能与被测表面相同，也可从加工零件中选出样品，经过检定合格后作为表面粗糙度比较样块使用。 比较法使用简便，但判断的准确程度有限，所以适用于车间中近似评定粗糙度较大的工件 4.4.2 光切法 光切法是利用光切原理来测量表面粗糙度数值的一种方法。光切法所用的仪器是光切显微镜(又称为双管显微镜)，它适宜测量轮廓单元的平均高度Rc和轮廓最大高度Rz值，测量Rc值范围一般为0.8~6.3 μm。 1.双管显微镜的测量原理 双管显微镜的外形如图4-20所示，其测量原理如图4-21所示。由光源1发出的光线经狭缝2（绿色挡板）及物镜3形成一个扁平的光束，此光束以45°的方向投射到被测表面而形成一条绿色的光带，光带边缘的形状即为被测工件在45°截面的轮廓。光带经反射后，通过显微镜的物镜4成像于目镜5前的分划板6上。目镜5中看到的影像是与被测表面成45°方向截面上的轮廓曲线，并经物镜放大了M倍，故表面的实际粗糙度最大高度h与影像h′的关系为 图4-20 双管显微镜的外形结构 1—基座；2—工作台纵向移动百分尺；3—立柱；4—升降螺母；5—横臂；6—微调手轮； 7—横臂锁紧螺钉；8—光源；9—目镜锁紧螺钉；10—测微目镜；11—目镜百分尺； 12—镜头架；13—物镜锁紧手柄；14—可换物镜组；15—V形块；16—工作台； 17—工作台横向移动百分尺；18—工作台锁紧螺钉 图4-21 双管显微镜的测量原理 1—光源；2—狭缝；3、4—物镜；5—目镜；6—分划板 由图4-21（c）可知，测微器中的十字线与测微器读数方向成45°，当用十字线中的任一直线与影像峰、谷相切来测量波高时，波高h′=h″cos 45°。其中，h″为测微器两次读数的差值，被测表面的粗糙度最大高度为 2.测量步骤 利用双管显微镜测量表面粗糙度数值的步骤如下： （1）按图纸要求或用比较法估计被测表面的粗糙度值，选择合适放大倍数的物镜安装在仪器上。将工件安置在工作台16上的V形块15中，松开工作台锁紧螺钉18，转动工作台，使得工件加工痕迹与光带方向平行，拧紧工作台锁紧螺钉18，见图4-20。通过变压器接通电源。 （2）调整仪器，松开横臂锁紧螺钉7，转动升降螺母4，使镜头架12缓慢下降到靠近工件表面，但不能接触工件，使得测微目镜10中出现一条绿色光带，锁紧横臂锁紧螺钉7。再通过反复调节微调手轮6及光带位置调节钮，使得光带清晰。松开目镜锁紧螺钉9，转动测微目镜10，使目镜中十字线中的水平线与光带大致平行，然后锁紧目镜锁紧螺钉9。 （3）根据粗糙度允许值查表确定取样长度lr，在取样长度范围之内，转动目镜百分尺11，使十字线中的水平线分别与每个波峰、波谷相切，取读数的最大差值为测量值。测量值与系数E的乘积即为表面粗糙度的轮廓最大高度Rz。 4.4.3 干涉法 干涉法是利用光波干涉原理来测量表面粗糙度数值的一种方法。干涉法所用的仪器是干涉显微镜，通常用来测量Rc和Rz值，测量Rc值的范围一般为0.4~1 μm。 1.干涉显微镜的测量原理 干涉显微镜的外形如图4-22所示，其测量原理如图4-23所示。由光源1发出的光线，经聚光滤色镜组2聚光和滤色，再经反射镜3转向，通过光栏4、5和物镜6，投射于分光镜7的半透明半反射膜后分成两路光束，一路光束透过分光镜7和补偿镜10、物镜11射向工件被测表面P2，经P2反射后原路返回，再射在分光镜上，射向观察目镜16。另一路光束由分光镜7反射，经滤色片8、物镜9射向标准反射镜P1，再由P1反射也经原路返回，透过分光镜，射向观察目镜16。 由于同一光源分为两路的相干光束之间有光程差，相遇后便产生干涉，在目镜16中可观察到产生于分划板15上的明暗相间的干涉条纹。如果被测表面是理想表面，则干涉条纹为一组等距离的平行条纹线；若被测表面存在微观不平，则形成弯曲条纹，其弯曲程度随微观不平度的高度发生变化，如图4-24所示。用测量装置分别