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第 卷 第 期 液晶与显示
３０ ２
Vol．３０ No．２
ChineseJournalofLiuidCrstalsandDislas
年 月 q y p y
２０１５ ４ A r．２０１５
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文章编号: ( )
１００７Ｇ２７８０２０１５０２Ｇ０２９６Ｇ０４
基于馈通电压自动补偿的OLED电性能
测试波形设计研究
１ ２ １ １
, , ,
刘志军 侯红兵 李金泰 詹家豪
( , ;
１．广州航海学院 船舶工程系 广东 广州 ５１０７２５
, )
２．惠州市仲恺高新技术投资控股有限公司 广东 惠州 ５１６００６
: , , ,
摘要 常规馈通电压计算原理涉及到 OLED体的电容值 不同型号 OLED产品电容值是个变量 为了得到最佳的电容值
.
OLED制造企业测试部门需做大量的验证实验 本文直接通过栅极电压上拉使 OLED体的储存电容产生馈通电压来补偿
,
栅极电压关闭时栅极和漏极之间寄生电容产生的馈通电压 无需测量 OLED体的电容值和修正Vcom值即可补偿栅极电压
. ,
关闭时栅极和漏极之间的寄生电容产生的馈通电压 实验结果表明 基于馈通电压自动补偿原理设计的Shortin BarTest
g
, .
与 人工修正原理设计的电性能测试波形的检测效果一致 而对不同缺陷的检测率有微小差异
Waveform Vcom
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关 键 词 电性能测试 波形测试 电压补偿
OLED
中图分类号: ＋ 文献标识码: : /
TN３２１．５ A doi１０．３７８８YJYX０２９６
DesinofOLEDshortin bartestin waveformbasedon
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feedthrouhvoltaecom ensation rincile
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