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天线技术第9章
* 第 9 章 天线测试技术 第 9 章 天线测试技术 9.1 天线测试条件 9.2 方向图测试技术 9.3 增益测量技术 9.4 常用测量仪器简介 习题9 9.1 天线测试条件 9.1.1 天线场区的划分 发射天线是辐射电磁波的波源,其周围的场强分布一般都是距离和角坐标的函数。通常, 根据离开天线距离的不同,将天线周围的场区划分为感应场区(近区)、辐射远场区(远区)和辐射近场区(中区)。这和电基本振子产生的场区划分是一致的。在近区,感应场占优势,它的外边界约为一个波长。越过感应场区就进入中区了。此区内场的角分布与距离有关, 天线各单元至观察点的射线不平行。在各单元对场的贡献中,其相对相位的相对幅度是离开天线距离的函数。进入远场区后,场的角分布与距离无关,即天线各单元至观察点的射线可以认为是平行线。严格地讲,只有离天线无穷远才是天线的远区。但在某个距离上,当场的角分布与在无穷远时场的角分布的误差在允许范围内时,就可把该点至无穷远的区域称为天线的远区。 图9-1两类天线的辐射场区 (a) 口径型天线; (b)电小天线 9.1.2 最小测试距离 1.相位条件 收、发天线都有一定的口径尺寸。因此,在有限距离下, 收、发天线口面各点距离并不相同。从图9-2可见,收、发天线的中心距离r最小;其口径相对边缘的距离rmax最大,且 所以,因其距离不同而产生的最大相位差为 (9-1-1) 式中, D1和D2分别为收、发天线的口径尺寸。 图9-2 被测天线的最大口径相位差 当rD1+D2时,有 (9-1-2) 如果要满足测量精度要求Δφmax=π/8,则相位条件要求的最小测试距离为 (9-1-3) 对于多数实用的圆口径天线,口径场均从中心向边缘逐渐减弱, 因此边缘附近的场对辐射特性的影响较小,故可把相位条件放宽。例如取Δφmax=π/4,则 (9-1-4) 当只知道被测天线的口径尺寸为D1时,通常采用的最小测试距离公式为 (9-1-5) 2. 横向幅度条件 为确保测试精度, 通常要求被测天线的口径边缘处入射场的幅度相对于中心不得低于某值,例如0.25dB。这样就要求被测天线口径对发射天线中心的张角, 应远小于发射波瓣宽度2θ0.5。若采用小口径发射天线,这个要求容易实现。否则, 应按发射天线的实际方向图来计算,从而确定最小测试距离。 3. 纵向幅度条件 如果被测天线是长度为L的端射天线,由于天线上不同点到发射天线的距离不等,因此接收天线的各点场强不等,被测天线前后两端的功率密度比为 其中,r0为收、发天线中心点之间的距离。根据测试精度,需限制S的大小,例如要求S1 dB,则满足纵向幅度条件的最小测试距离 在天线测量时, 应取以上各条件所要求的最小测试距离中的最大值。 9.1.3 测试场地 当测试天线辐射特性时,最理想的测试场地是自由空间, 但实际上难以办到。模拟自由空间的测试场的方法之一是建造电波暗室。它是一个室内每面均覆盖吸波材料的电磁屏蔽房间。 其房间大小应满足天线测试场的尺寸要求。例如其长度应大于最小测试距离。吸波材料能吸收投射来的电波而不产生反射, 以便达到模拟自由空间的目的。由于造价等原因,电波暗室方案通常适用于微波波段,所以通常称作微波暗室。 常见测试场地都选择空旷地。不应有高架的输电线、电话线、树木以及建筑物等,以消除周围物体产生的反射波。对于地面反射的影响,可采取措施让其减至最低程度。例如选用高架天线测试场和斜天线测试场,可在一定程度上消除地面反射对天线测试场的影响。如图9-3所示的高架天线法,就采用强方向性天线作发射天线,并使其第一个零点方向指向反射点。为了进一步消除地面反射波的影响,可在反射点附近设置反射屏,反射屏的存在使反射波偏离被测天线;或者在反射点附近设置电波吸收材料,减少射向被测天线的反射波强度。图9-4所示的斜天线测试法,是把被测试天线高架并作为接收天线,辅助的发射天线靠近地面架设,适当调整发射天线高度,使自由空间方向图的最大辐射方向对准被测天线中心,零辐射方向对准地面反射点,可使地面反射减至最小。它实质上是高度不等的高架测试场。 图9-3 高架天线测试场 图9-4 斜天线测试场 9.2 方向图测试技术 9.2.1 固定天线法 本法用于测量大型固定天线或安装完毕的天线方向图。 测试时, 被测天线固定不动并作为发射天线使用。辅助天线作为接收天线,它与发射天线保持某一固定距离(大于最小测试距离), 在所需的平面上测试天线的方向图。 9.2.2 旋转天线法 旋转天线法是最基本也是
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