测试铁氟龙管对温度衰减的系数实验报告（01.8）第二次.docxVIP

实验报告1.实验名称测试铁氟龙管对温度衰减的系数 实验人：孙孝鹏 2111507015 日期地点：2017年1月8日广州大学工程北5092.实验目的获取铁氟龙管对温度衰减的系数3.实验原理将铁氟龙管套住光纤封装进复合材料里，套有铁氟龙管的光纤对温度进行测试时，可能会因为铁氟龙管对温度的影响，从而阻碍光纤获取正常的温度，所以有必要获取铁氟龙管对温度衰减的系数，使封装的碳纤维传感器测出准确的温度。实验原理：将一段铁氟龙管套在裸光纤的固定位置上，通过实验仪器测出裸光纤的温度曲线，从而得出铁氟龙管对温度的衰减系数。4.实验内容利用光纤可以测应变和温度的特点，将套有铁氟龙管的光纤放在热水内，通过实验仪器DiTeSt-SAT202测出其温度变化曲线，通过解读曲线的变化，从而得到铁氟龙管对温度的衰减系数。实验步骤将铁氟龙管事先套在如下图1所示的位置；图1 光纤套管示意图将烧沸的热水导入水盆内，然后将图1中的浸水区域放入水盆内，固定好光纤在水盆边缘的位置（已将光纤尽量拉直）；设置实验仪器参数，建好保存实验数据的数据库；记录此时水盆内水的温度，并开始实验；在实验中将分别记录三次水温，分别是开始前的水温，中间的和结束时的水温；一轮实验完毕后开始另一组实验，记录数据过程如上一次实验；实验完毕，停止记录数据，将所测数据打包整理；分析数据并得出结论；实验结果（1）利用长为19米的裸光纤所做的实验数据，如下表1：表1 19米光纤测试数据实验时间水温（℃）数据文件名称所在数据库21:26(耗时3min55s)测试前56201701072126GIMmdb测试中54测试完5321:31(耗时3min55s)测试前52.8201701072131GIMmdb测试中52.3测试完51.421:35(耗时3min54s)测试前51.1201701072135GIMmdb测试中50.2测试完5021:42(耗时3min54s)测试前49.5201701072142GIMmdb测试中48.3测试完48.222:01(耗时3min54s)测试前59.5201701072201GIMmdb测试中59测试完5722:06(耗时3min54s)测试前56.5201701072206GIMmdb测试中56.3测试完5622:10(耗时3min54s)测试前55201701072210GIMmdb测试中54.6测试完53.722:15(耗时3min54s)测试前53.5201701072215GIMmdb测试中53.1测试完52.322:19(耗时3min54s)测试前52201701072219GIMmdb测试中51.4测试完50.622:24(耗时3min54s)测试前50.6201701072224GIMmdb测试中50.2测试完49.7表2 实验仪器设置参数FrequencyStart(GHz)FrequencyStop(GHz)Frequency Step(GHz)Central Frequency(GHz)Spacial Resolution(m)1011.50640.0110.85640.5图2 19米光纤温度变化曲线（实验仪器无法正常标定导致数据曲线杂乱）结论实验仪器的 Measurement Contrast和Processing都是红色显示，尝试多次调整光纤位置，并无效果，实验数据跟实际严重不符，实验失败。（2）由于光纤断裂，重接光纤，采用18米的光纤测试：铁氟龙管的放置示意图，如下图3；图3 光纤套管示意图利用长为18米的裸光纤所做的实验数据，如下表2：表3 18米光纤测试数据实验时间水温（℃）数据文件名称所在数据库15:29(耗时4min03s)测试前76.5201701081529GIMmdb测试中73.4测试完7115:34(耗时4min03s)测试前68.9201701081534GIMmdb测试中66.5测试完65.915:43(耗时4min01s)测试前61.2201701081543GIMmdb测试中60测试完58.915:54(耗时4min01s)测试前55.4201701081554GIMmdb测试中55测试完54.215:59(耗时4min01s)测试前53.1201701081559GIMmdb测试中53测试完52.5表4 实验仪器设置参数FrequencyStart(GHz)FrequencyStop(GHz)Frequency