ad6[高等教育]数子电子技术实验指导书.docVIP

07电子信息工程、通信工程（兴）：4月19日下午??4月26日下午??5月9日上午??5月10日下午 3、低电平输入电流IIL 与非门的低电平输入电流IIL是指被测输入端接低电平，其余输入端悬空或接VCC，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。因为门电路的输入电流通常就是前级门电路的负载电流，其大小直接影响前级电路驱动负载的个数，所以这一参数非常重要。必要时要对门的每个输入端进行测试。 测试电路如图1-3所示。 测试条件：被测输入端通过电流表接地，其余输入端悬空或接VCC，输出空载，VCC=5V。74LS系列低电平输入电流IIL典型值为0.4mA。 4、电压传输特性 电压传输特性是指门电路输出电压Vo随输入电压Vi而变化的曲线。 电压传输特性的测试电路如图1-4所示，调节Rw，使Vi从0v至5v变化，逐点测出Vo和Vi，填入表1-1中，再根据实测数据绘出电压传输特性曲线，从曲线上读出VOH(标准输出高电平)、VOL(标准输出低电平)、VIL(MAX)和VIH(MIN)。 图1-4 电压传输特性测试 表1-1 VI(V) 0.3 0.5 1.0 1.2 1.3 1.4 1.5 2.0 2.4 VO(V) 通常对74LS系列要求VOH2.4V，VOL0.4V，VIL(MAX)0.8V, VIH(MIN)2V。 5、扇出系数NO 扇出系数NO是指输出端最多能带同类门的个数，它反映了与非门的最大负载能力。NO＝IOL（MAX）/IIL,其中IOL（MAX）为VOL0.3V时允许灌入的最大负载电流，IIL为低电平输入电流。 测试电路如图1-5所示。其电路所有输入端悬空，负载RL可用一固定电阻和一个1K?电位器串接实现，串接固定电阻的目的主要是防止调整过程中电流过大而损坏器件。 测试方法：按图1-5接好电路，调整RL值，使输出电压VOL=0.3V，测出此时的负载电流IOL（MAX），它就是允许灌入的最大负载电流，根据上面NO的公式即可算出扇出系数。一般，NO8。 三、CMOS与非门参数测试原理 1、输出高电平VOH和输出低电平VOL 一般CMOS门电路的供电电源可为3~18V（HCMOS的供电电源可为2～6V），因此CMOS门的高低电平和TTL门电路的高低电平（固定）不一样,它随供电电源而变。一般输出电平为：VOH＝0.9VDD,VOL=0.1 VDD。 测试电路如图1-6所示。 测试方法：（1）供电电源VDD取5V，将与非门的两个输入端并接，并将其与VDD连接，测量其输出电压，即为VOL。注意：为保证输出开路，测量用的电压表的内阻要足够大，最好用数字电压表；（2）供电电源VDD取5V，将与非门的两个输入端并接，并将其与地连接，测量其输出电压，即为VOH；(3) 供电电源VDD取3V，重复步骤（1）、（2）测量，并将测量结果填入表1-2中。3V电源可由5V通过电阻分压取得。 表1-2 VDD(V) VOL VOH 5 3 2、电压传输特性 测试电路参考图1-4。测试方法与TTL与非门测试相同。 3、CMOS门的静态功耗测试电路和方法及其它主要参数的测试与TTL与非门测试相同，所不同的是TTL与非门的多余端允许悬空，而CMOS门则不允许。另外、CMOS门是微功耗器件，其电流值要小得多，实验室给定的仪器难以测出。 四、实验内容 1、逻辑功能测试； 2、TTL与非门主要参数测试（ICCL、ICCH、IIL、电压传输特性及扇出系数NO）； 3、CMOS与非门参数测试（输出高电平VOH和输出低电平VOL及电压传输特性）。 五、实验预习要求 复习门电路的工作原理，了解与非门主要参数的定义及意义； 熟悉各测试电路，了解测试原理和测试方法； 熟悉74LS00和74HC00的引脚排列。 六、实验报告 1、记录、整理实验结果，并对结果进行分析； 2、画出实测的电压传输特性曲线，确定VON、VOFF、VOL、VOH、VNL、VNH等参数值； 3、将实测的CMOS与非门各参数及电压传输特性曲线与TTL与非门各参数及电压传输特性曲线进行比较分析。 七、实验器材 1、数字电路实验台 2、数字万用表 3、器件 74HC00 四二输入与非门 1片 74LS00 四二输入与非门 1片 实验2 组合逻辑电路设计（一） 实验目的 掌握用基本逻辑门设计组合逻辑电路的方法； 熟悉各种逻辑门电路的应用及其应用电路功能的测试方法。 二、用SSI设计组合电路的一般方法 根据给出的实际逻辑问题，求出实现这一逻辑功能的最简逻辑电路。用SSI设计组合逻辑电路