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04固体能带结构及固体光谱.ppt

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04固体能带结构及固体光谱

五、克喇末—克朗尼格关系(Kramas-Kronig relationships)(KK关系) 2、过渡族金属离子中心 1、三价稀土离子中心 四、分立中心的吸收与发光 1、三价稀土离子中心的吸收与发射光谱 Eu3+:5s25p64f6 电子组态: Eu(63):5s25p64f76s2 , 基态能级: S=3,L=3,J=6,5,4,……0 ; 7F0,7F1,7F2……7F6 可见光区存在着丰富的能级 的吸收光谱 发光: 2、过渡族金属离子中心的晶场光谱 电子组态: Cr3+:3d3; Ti3+:3d1; Mn2+:3d5 具有非完全填满的d 壳层。 Ti3+:3d1 (八面体对称晶场) 吸收光谱 电荷转移态 能级交叉 弱场和强场近似; 八面体对称 一、参数法:垂直入射时的反射光谱 第四节 光学常数的测量 设入射、反射和折射为三列平面电磁波,即 入射波 反射波 折射波 电场、磁场关系 边界条件:切向 连续;法向 连续 光由空气垂直入射到具有复折射率 的介质上。(半波损失) 参数法确定n和?:以R为参数,可得(n,?)关系为二次曲线 不同反射率R 下的(n, ?)图 二、Brewster角法确定n 求斜入射下的反射率与透射率。 tgφ1= n 则RP=0,Tp=1 . 当n=3,κ=1时,反射率R 作为入射角的函数曲线 三、干涉法:薄膜反射或透射光谱 入射光的电场E在 z=0 处为1; 2? = 2m?,或2nd = mλ0 ( m =1,2,3,…) 时,透射光谱T 取一系列极大值,而反射光谱R 出现一系列极小; 当 2? =(2m+1)?,或 2nd = (2m+1)λ0 /2,透过光谱出现一系列极小值,而反射光谱出现极大 相邻极大: 测得相邻条纹的间隔,则知道了折射率,可以算出薄膜的厚度;反之,知道厚度可以求出折射率。 P轴(平行分量) zo ze 450 450 四、椭偏光度法 * Ge和二元化合半导体(例如GaAs)的能带示意图 第四章 固体能带结构及固体光谱 (GaAs)的能带图 Γ点附近 直接带Ⅲ-Ⅳ族半导体在Γ点附近的能带结构 典型的半导体的吸收光谱 光子能量(eV) 吸收系数(cm-1) 波长(μm) 100 106 10-1 10-3 102 103 基本吸收区 吸收边缘 激子吸收 自由载流子吸收 剩余射线区 自由载流子吸收 杂质吸收 典型的半导体吸收光谱 激子光谱 幂指数区:吸收系数随光子能量的变化为幂指数规律. 1/2次方, 3/2次方, 平方律. 带尾态; 杂质态. 第二节 带间跃迁的吸收与发射光谱 一、允许的直接跃迁 0K时,价带是满带,导带是空带。 绝热近似:电子跃迁,原子核不动。 单电子近似:忽略电子之间的耦合,一个光子只和一个电子发生作用。 能量守恒: Eg 0 E=0 Eg 动量守恒: Ki + k = Kf k=h/?0K=h/a 以价带顶为原点 →Ki = Kf =K→直接跃迁。 叫做联合态密度 直接跃迁吸收系数的计算: (?次幂!) [? (? ?)]2 ? ? Eg 二、禁戒的直接跃迁 三、声子伴随的间接跃迁 平方律。来自间接带结构的间接跃迁。 0 Ef Ei Ef-Ei+EP Ef-Ei-EP 导带 价带 E K 2、靠杂质散射实现间接跃迁。 1、声子参与,与温度有关; 间接跃迁吸收光谱的计算 温度T 下, 对于吸收一个声子, 对于发射一个声子, Bose-Einstein统计 平方律 [?(??)]1/2 Eg-EP Eg+EP 间接跃迁吸收边的温度依赖 作 关系图。 两种发光过程 (a)直接跃迁; (b)间接跃迁。 nC:导带被占据的电子态密度;nV:价带空出的状态 四、带间复合发光 其中 A’ 和 B 为与频率无关的常数。 Eg-Ep Eg 吸收或发光 直接 间接 间接复合发光 第三节 杂质和缺陷态光谱 一、复合中心 C V D A ED EA 半导体掺杂 n-Si(Ge) N, P, As, Sb, Bi等五族元素 p-Si(Ge) B, Al, Ga, In等三族元素 在禁带中形成施主或受主能级,电离能~meV 采用弱束缚近似方法-类氢原子模型 电子(或空穴)在杂质中心附近受到库仑势 其中 r 为电子或空穴的位置坐标 解薛定谔方程,可得杂质能级(分别以导带底或价带顶为0点) 其中R *为杂质态的里德伯常数 其中m *为电子或空穴的有效质量 二、施主和受主杂质中心的红外吸收 (a)和(b):中性施主(受主)与导(价)带间的跃迁-浅跃迁 (c)和(d):离化施主(受主)与价(导)带间的跃迁-深跃迁 eV 吸收(相对值) T=1

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