复色光源x射线光栅衍射效率深圳大学.pdfVIP

第 37 卷第 8 期 光 　子 　学 　报 Vol . 37 No . 8 2008 年 8 月 　　　　　　　　　　　　 Augu st 2008 A C TA P HO TON ICA SIN ICA 复色光源 X 射线光栅衍射效率 1 ,2 2 1 ,2 2 刘鑫 ,郭金川 ,桂建保 ,牛憨笨 ( 1 华中科技大学 光电子科学与工程学院 ,武汉 430074) (2 深圳大学 光电子研究所 光电子器件与系统教育部重点实验室 ,深圳 518060) 摘 　要 :基于 Fre snel 衍射理论 ,分析了复色光源 X 射线光栅衍射效率. 研究了 X 射线光栅不同材 料 、不同槽深 、源的谱分布及不同占空比对衍射效率及成像质量的影响 ,给出这些参量的选择方法. 主要考虑了各种参量对光栅 0 级及 1 级衍射强度的影响. 发现高 Z 元素的物质不适合做 X 射线光 栅材料 ,低 Z 元素 Be 、Si 、Al 及有机物 PMMA 等较适合 18～30 keV 波段的 X 射线光栅. 源的谱分 布决定了光栅槽深选择. 数值计算给出了 Si 光栅各种参量的具体值. 关键词 :X 射线光栅 ;衍射效率 ; 占空比;微分相衬成像 中图分类号 :O434 . 19 　　　　文献标识码 :A 　　　　文章编号 :100442 13 (2008) 0816624 0 　引言 1 　光栅衍射效率 对 X 射线弱吸收物体 ,透过物体的 X 射线相位 光栅结构如图 1 ,光栅周期为 D ,凹槽部分宽度 变化比其强度变化要大得多 ,尤其是生物体的软组 织 ,相位变化能更准确地反应物体的内部结构. 因 此 ,X 射线相位探测技术要比普通的吸收成像灵敏. 近年来发展了多种 X 射线探测技术[ 15 ] ,如基于传 播的边缘增强技术[4 ] ,采用波带片方法[ 5 ] ,衍射增强 技术等[ 6 ] . 最近 ,利用光栅干涉仪微分成像技术取得 图 1 　X 射线光栅 了很大的进展[ 79 ] ,该技术利用光栅 Talbot 自成像 Fig . 1 　Xray grating 将物体的相位信息调制到光栅干涉条纹中 ,通过解 为 d . 将相位光栅透射函数写为级数形式 调得到物体的相位一阶微分衬度. ( ) ( π nx) ( ) T x = ∑a exp 2 i 1 n D 微分相衬成像技术多使用同步辐射作为其光 式中 an 为 Fourier 展开系数. 当入射光为平面单色 源 ,因为同步辐射源具有亮度高 、相干性好的优点. 光时 ,经衍射后像面的振幅分布为 但是同步辐射源本身限制了其在普通实验室中的应