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清华大学化学系 表面与材料实验室 X射线的衍射强度 为什么衍射峰有一定宽度（为什么在偏离布拉格角的一个小范围内也有衍射强度）？ X射线衍射强度与哪些因素有关？与存在的结构量成正比 在研究衍射方向时，是把晶体看作理想完整的，但实际晶体并非如此。既使一个小的单晶体也会有亚结构存在，他们是由许多位相差很小的亚晶块组成。另外，实际X射线也并非严格单色（具有一个狭长的波长范围），也不严格平行（或多或少有一定发散度），使得晶体中稍有位相差的各个亚晶块有机会满足衍射条件，在θ±Δθ范围内发生衍射，从而使衍射强度并不集中于布拉格角θ处，而是有一定的角分布。因此，衡量晶体衍射强度要用积分强度的概念。 衍射强度 式中：I0入射电子束的强度；e、m 电子的电荷与质量；c 光速；入射X射线的波长；R由试样到照相底片上衍射环间的距离；V试样被入射X射线所照射的体积；υ单位晶胞的体积；FHKL结构因数； Phkl多重性因数；φ（θ）角因数；e-2M 温度因数 ；R（θ） 吸收因数。 X射线衍射的方法 50年代以前的X射线衍射分析，绝大多数是利用底片来记录衍射线的（即照相法） 近几十年来，用各种辐射探测器（即计数器）来记录已日趋普遍。目前专用的X射线衍射已在各个主要领域中取代了照相法。颜色已具有方便，快速，准确等优点，它是近代以来晶体结构分析的主要设备。 近年来由于衍射仪与电子计算机的结合，是从操作，测量到数据处理已大体上实现了自动化。 多晶衍射仪的组成 当然少不了X射线的发生装置----X光管； 为了使X射线照射到被测样品上需要有一个样品台； 为了接受由样品表面产生的衍射线需要有一个射线探测器，而且这个探测器应当安放在适当的角度上，测角仪 检测系统，正比计数器等 样品要求 需要特别注意：衍射仪只能用于粉末压制成的样品或块状多晶体样品的测试，而不能用于单晶体的测试（原因是对于固定波长的入射线，若样品为单晶体，则一个布拉格角只能有一个晶面参与衍射，这样衍射强度将会很小，以致于无法检测出来）。 衍射仪的实验参数主要有以下几个，狭缝宽度、扫描速度、时间常数、走纸速度。 样品的制备 粉末压片 粒度在1-5微米左右，粒度大影响衍射强度测量，粒度小产生衍射峰的宽化 粉末加到石腊油中 薄膜样品 厚度存在强度的影响：厚时会产生吸收，薄时衍射较弱 择优取向问题 X射线衍射的物相分析 材料的成份和组织结构是决定其性能的基本因素，化学分析能给出材料的成份，金相分析能揭示材料的显微形貌，而X射线衍射分析可得出材料中物相的结构及元素的存在状态。因此，三种方法不可互相取代。 物相分析包括定性分析和定量分析两部分。 定性分析 定性分析鉴别出待测样品是由哪些“物相”所组成。X射线之所以能用于物相分析是因为由各衍射峰的角度位置所确定的晶面间距d以及它们的相对强度I/I1是物质的固有特性。每种物质都有特定的晶格类型和晶胞尺寸，而这些又都与衍射角和衍射强度有着对应关系，所以可以象根据指纹来鉴别人一样用衍射图像来鉴别晶体物质，即将未知物相的衍射花样与已知物相的衍射花样相比较。 既然多晶体的衍射花样是被鉴定物质的标志，那么就有必要大量搜集各种已知物质的多晶体衍射花样。Hanawalt早在30年代就开始搜集并获得了上千种已知物质的衍射花样，又将其加以科学分类，以标准卡片的形式保存这些花样，这就是粉末衍射卡片（PDF）。 粉末衍射卡片 第1部分 1a,1b,1c为三根最强衍射线的晶面间，1d为试样的最大面间距； 第2部分 2a,2b,2c，2d为上述四根衍射线条的相对强度； 第3部分 所用实验条件 第4部分 物相的结晶学数据 第5部分 物相的光学性质数据 第6部分 化学分析、试样来源、分解温度、转变点、热处理、实验温度等 第7部分 物相的化学式和名称 第8部分 矿物学通用名称、有机物结构式。又上角标号★表示数据高度可靠；○表示可靠性较低；无符号者表示一般；i表示已指数化和估计强度，但不如有星号的卡片可靠；有c表示数据为计算值。 第9部分 面间距、相对强度和干涉指数 第10部分 卡片序号 应用方法 根据英文名称的第一字母顺序编排。在名称后面列出物质的化学式、其衍射图样中三根最强线的d值和相对强度，以及物质的卡片序号。检索者一旦知道了试样中的一种或数种化学元素时，便可以使用这种索引。被分析的对象中所可能含有的物相，往往可以从文献中查到或估计出来，这时便可通过字母索引将有关卡片找出，与待定衍射花样对比，即可迅速确定物相。 当待测样品中的物相或元素完全不知时，可以使用数字索引。该索引将已经测定的所有物质的三条最强线的面间距d1值从大到小按顺序分组排列。考虑到影响强度的因素比较复杂，为了减少因强度测量的差异而带来的查找困难，索