X光吸收光谱在含一氧化氮之铁硫化合物电子结构监定上的-NSRRC.PDFVIP

科學研究 X光吸收光譜在含一氧化氮之鐵硫化合物 電子結構鑑定上的應用 一氧化氮為大家熟知的分子，它與生物體裡面許多化學反應息息相關。在仿生錯合物領域，化學家 以合成含有一氧化氮的鐵硫化合物為起點，藉由研究其結構的特性，更進一步推測一氧化氮在生物 + - 體裡的反應機制。以一氧化氮為配基時它可以NO ，NO或NO之形式存在而影響金屬離子之電子結 構。此外某些含硫的配基，也有容易自身氧化還原的特性。本文將以X光吸收光譜探測一個含NO及 容易自身氧化還原配基的鐵硫的錯合物中金屬離子與配基的電子結構。 王澤元、許益瑞、王瑜 （台灣大學化學系） 謝忠宏、李建明、廖文峰（清華大學化學系） 陳錦明、李志甫、張凌雲（NSRRC研究組） + - 前言 NO 與CO或CN 為等電子數（isoelectronic ）分子， - 一氧化氮，NO （nitric oxide ），是一種簡單，又 NO 與O2為等電子數且同時也具有三重基態（triplet 豐富多變的分子。長久以來一直被視為是一種有毒的、 state ），這些價電子數目多寡以及多重基態之間的關 刺激性的氣體，以及汽機車燃燒不完全之排放物。一 聯性使得這類的生化相關錯合物在生理作用上有著特 直到1980年代才發現一氧化氮為生理上一種非常重要 殊的相關性。一氧化氮氣體分子的鍵長約為1.154 Å ， [1] - + 的調節器（regulator ） 。直至今日，其特殊的生理 NO 雙鍵約1.28 Å而NO 三鍵約為1.06 Å 。由分子軌域 作用及其在配位化學所扮演之角色仍未完全清楚。 圖一所示，一氧化氮分子鍵序約為2.5 ，所以其鍵長 一氧化氮分子本身為一穩定之自由基，其分子軌 合理的被認為介於雙鍵以及三鍵之間。從紅外線光譜 [2] * -1 + 域如圖一所示 ，一個未鍵結電子填入反鍵結之π分 分析可以得到其NO振動能量從2377 cm (NO )到1875 -1 -1 - [3] 子軌域。 cm (NO ·)到1470 cm (NO ) ，充分反映了其對於鍵 序（鍵能）以及鍵長的連續變化。從電子自旋共振 （Electron Paramagnetic Resonance, EPR ）分析得知中