[信息与通信]chapter1-IC-Test.pdf

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超大规模集成电路测试 超大规模集成电路测试 2011-9-5 1 查方式 查方式 平时成绩30% 平时成绩30% n 包括:考勤,作业等 n 包括:考勤,作业等 试卷70%(开卷) 试卷70%(开卷) 2011-9-5 2 参考书目: 参考书目: 1, 《超大规模集成电路测试-数字、存储器和 1, 《超大规模集成电路测试-数字、存储器和 混合信号系统》 Michael L. Bushnell著 电 混合信号系统》 Michael L. Bushnell著 电 子工业出版社 子工业出版社 相关网站: 相关网站: 1, 1, 2, 2, 3, www.2 1 3, www.2 1 4, 4, 5, 5, 6, 6, 2011-9-5 上海电力学院电子科学与技术系 3 内容提要 : 内容提要 : n 测试与验证的基本术语; n 测试与验证的基本术语; n 故障模型; n 故障模型; n 逻辑模拟和故障模拟; n 逻辑模拟和故障模拟; n 组合电路测试生成方法; n 组合电路测试生成方法; n 专用可测性设计; n 专用可测性设计; n 扫描设计,边界扫描设计,内建自测试; n 扫描设计,边界扫描设计,内建自测试; n IDDQ测试原理;Memory测试;SOC测试。 n IDDQ测试原理;Memory测试;SOC测试。 2011-9-5 上海电力学院电子科学与技术系 4 第一章概述 第一章概述 2011-9-5 5 2011-9-5 上海电力学院电子科学与技术系 6 1,设计与测试紧密相关 2011-9-5 上海电力学院电子科学与技术系 7 2,电路速度、功能和性能不断提高 2,电路速度、功能和性能不断提高 2011-9-5 上海电力学院电子科学与技术系 8 3,器件复杂程度的提高 3,器件复杂程度的提高 2011-9-5 上海电力学院电子科学与技术系 9 4,设计挑战 4,设计挑战 2011-9-5 上海电力学院电子科学与技术系 10 5,Time-to-Market 5,Time-to-Market 2011-9-5 上海电力学院电子科学与技术系 11 6,测试设备和测试开发的成本增加 6,测试设备和测试开发的成本增加 2011-9-5 上海电力学院电子科学与技术系 12 2011-9-5

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