G射频近场探头介绍与应用.PDFVIP

3G 射频近场探头介绍与应用 本应用指南主要介绍各种3GHz射频近场探头的特点和性能，并解释了它们在定位、评测可能的 发射源以及对其进行故障诊断方面的特殊优势，尤其对PCB印刷电路板的电磁干扰测试(EMI)。 近场探头简介 电磁场由电场(E场)和磁场(H场)结合形成。工程师可使用各种近场探头来检测各类场的发射。 磁场探头 磁场发射源通常来自芯片组引脚、印刷电路板导线、电源线或信号线，或没有良好接地的金属盖。 磁场探头的感应元件是一个与发射导线或电线电感耦合的简易线圈。磁场探头在它的回路与载流电线 对齐时，提供频谱分析仪的最大输出电压。在诊断EMI的故障时，工程师需要在被测器件的表面旋转 和移动探头，以确定探头在功率读数达到最大值时的位置，同时避免遗漏重要的发射源。 电场探头 电场主要来源于未使用负载端接的电缆和电线，以及通向高阻抗逻辑电路的印刷电路板导线 (可 能是逻辑集成电路的高阻抗输入或三相输出)。最简单的电场探头实质上就是一个小型天线。电场探 头能够很方便地探测空中信号，例如蜂窝下行链路信号。这些大功率空中信号可能需要增加衰减，以 防频谱分析仪过载。不过，增加衰减将会影响频谱分析仪的灵敏度。 选择探头类型 在远场测试中，被测器件和天线之间的距离决定了场强的大小。当探头靠近发射源时，电流、电 压、形状和材料等特性将成为决定场强的主要因素。如果辐射是来自高电压、弱电流的电路或元器件， 那么电场在EMI近场中将起到主要作用。如果部分被测器件中电流很强而电压较低，那么磁场将起到 主要作用。在近场测试中，当探头逐渐远离被测器件时，磁场衰落的速度比电场更快。因此，磁场探 头更多地用于在近场测试中定位发射目标。 选择近场探头 选择近场测试探头往往要考虑几个重要因素，包括探头灵敏度、分辨率和频率响应等。 灵敏度 与频谱分析仪不同，近场探头的灵敏度不是一个绝对值。因此，工程师需要将频谱分析仪和探头 视为一个整体系统来测试其灵敏度。整个系统应能够轻松地探测到很小的发射，并有足够的余量来观 测硬件变动前后发射的变化。 分辨率 近场探头的分辨率对于定位发射源至关重要。通常来说，探头的灵敏度和分辨率是一对矛盾体。 例如，尺寸越大的磁场探头，灵敏度往往越高，探测发射的区域越大，但其分辨率会越低，从而难以 准确地分辨发射源。因此，最好是先使用尺寸较大、灵敏度较高的探头来执行EMI测试，捕获和确定 发射源的大致区域，然后使用尺寸较小但分辨率较高的探头来确定发射源的准确位置。为此，推荐您 配备多种探头。 频率响应 频率响应是一个经常会被忽略的重要因素。频率响应是给定探头在测量相同幅度、不同频率的信 号时得到的幅度差。当使用天线测试磁场时，更重要的是精确测量场强，而不是测量频率响应。在进 行近场测试的过程中，探头的角度以及探头与被测器件之间的距离都会改变，因此使测量场强的绝对 值失去了意义。数据结果的比较非常重要，它可以帮助工程师找到产生最大发射的频率点。例如，如 果频率响应在一个特定频率上出现很大衰减，那么在该频率上的高发射可能远远低于信号分析仪上的 发射，因而被忽视。 其它特性 近场探头的形状和多样性也是选择探头时需要考虑的重要因素。除了上面介绍的常规的电场和磁 场探头之外，工程师可能还需要一些专用探头，用来实施先进的EMI故障诊断。专用探头通常用于寻 找并屏蔽可能的发射源。例如：工程师可能需要借助专用的探头，才能发现耦合到电缆或电线，并辐 射到被测器件其它部分的发射。如果干扰信号通过电缆发射，那么使用常规的磁场和电场探头很难探 测到这些干扰信号。 十四种3GHz射频近场探头性能介绍和对比 第一种：OIRF-R400- 1 磁场探头：30MHz～3GHz 该大直径近场探头 （直径25mm）是14种3G射频探头中灵敏度最高的近场探头, 但分辨率最低。 其探测距离最大达10cm。该类近场探头检测在设备和组件中的高频磁场的空间分布，并让用户得出 干扰辐射的结果。 频率响应 磁场校正特性 频率：30MHz～3GHz，直径约为25mm，是德科技为N9311X-100-1、RSH400-1 第二种：OIRF-R50- 1 磁场探头： 30MHz～3GHz 该中