中子散射方法测定结构中子是在二十世纪初被发现的中子和质子一样.PDF

中子散射方法测定结构 中子是在二十世纪初被发现的. 中子和质子一样是组成原子核的基本粒子. 中子的质量与 质子相近, 中子不带电荷但具有磁矩, 其自旋为 1/2. 早在二十世纪三十年代, 就发现中子 可以被散射. 但直到二十世纪中期, 核反应堆的建立提供了稳定的强中子源, 使得中子散 射研究成为可能. 二十世纪八十年代散裂脉冲中子源的出现使人们可以得到更强的中子 流. 由于中子散射研究的迅速发展及其在科学上的重大贡献, 1994 年诺贝尔物理奖授予了 中子散射领域的两位代表人物 C.G. Shull 和 B.N. Brockhouse, 以表彰他们分别在中子弹 性散射和非弹性散射领域做出的卓越贡献. 3.11.10.1 中子散射的特点 热中子(下面一般简称为中子) 的波长与一般晶胞的线度相近, 可用来测定晶体结构和磁结 构. 与X 射线相比, 中子具有如下特点: X 射线的散射体是核外电子, 其相干散射长度与各元素的原子序数成比例; 而中子的 散射体是原子核, 其相干散射长度与各元素的原子序数无关, 且各同位素因核结构不 同而具有不同的相干散射长度. 因此中子散射可以精确测定较轻原子特别是 H 的位 置, 也可区分元素周期表上的近邻原子, 还可以识别同位素. 中子具有磁矩, 是直接探测磁结构的唯一手段. 中子具有极强的穿透力, 适于研究在各种环境条件, 如高温, 低温及高压等, 下的结 构及其变化. 3.11.10.2 中子结构分析的基本原理 3.11.10.2.1 晶体结构分析 中子晶体结构分析的原理与X 射线基本相同, 区别仅在于散射体不同. 晶体产生中子衍射的条件是布拉格方程 2 d Sinθ = λ 式中d 为晶面间距, λ 为中子波长, θ 为入射角(=反射角). 在此条件下可测到晶面间距为d, 晶面指标为 (hkl) 的晶面产生的衍射强度Ihkl , 它与结构 因子Fhkl 的模的平方成正比 2 Ihkl= k | Fhkl | 式中, k 为常数, 其中包括洛伦兹因子, 吸收因子, 消光因子等. 温度因子的影响暂不考 虑. 结构因子Fhkl 是复数, 其相角为 αhkl F =| F | exp(i α ) hkl hkl hkl 结构因子与晶胞内各原子的关系为: n F = b exp{2π i (hx +ky +lz )} hkl ∑j j j j j 1 式中对一个晶胞中的所有原子求和, x ,y ,z 是第j 个原子在晶胞中的分数坐标, b 是第j j j j j 个原子的中子相干散射长度. 与X 射线不同,