摩擦学国家重点试验室分析测试类仪器介绍.PDF

摩擦学国家重点实验室 分析测试类仪器介绍 V 形貌、结构测量分析类 场发射环境扫描电子显微镜 场发射环境扫描电子显微镜 FEI Quanta 200 FEG FEI Quanta 200 FEG ESEM可在高真空、低真空和环境等三种工作方式下工作， 可在很低真空的方式下对多孔隙材料与薄膜表面、经化学 修饰后的微粒的吸附现象、关节与人工关节样品等进行观 察分析并配有最新的X射线能谱仪、超微操纵及注射系统、 冷台及热台。  分辨率：二次电子成像  高真空模式：30KV时＜2.0nm  低真空模式：3 KV时＜3.5 nm  ESEM环境真空模式：30KV时＜2.0nm ESEM can work in high vacuum, rough  放大倍数：  高真空模式：12X～1,000,000X vacuum and normal environment. It can be  低真空模式：12X～1,000,000X used in the observation and analysis in rough  加速电压：200V-30KV vacuum environment about mushy material  样品室真空 ＜6 x10 -4～ 4000Pa and thin film, adsorption phenomenon of  扩展附件：  冷台：0～10℃时，可对样品在不同相对湿度(0～100%)下的状态进行 chemical modified particle, joint and artificial 观察和分析。制冷温度最低可达-20℃，控制精度可到0.1℃ joint. .  加热样品台：温度控制范围：室温～1000℃， 加热速度：1℃/min～300 ℃ /min 聚焦离子束扫描电子显微镜 FEI Quanta 200 FEG FEG-SEM/FIB can emit a high intensity focused ion beam (FIB) on the nanometer scale material combining with scanning electron microscopy (SEM). It open up a new way of nano proce