微波实验报告波导波长测量精选 .doc

微波实验报告波导波长测量 学院： 班级： 组员： 撰写人： 学号： 序号： 实验二 波导波长的测量 一、 实验内容 波导波长的测量 两点法 实验原理如下图所示： 按上图连接测量系统，可变电抗可以采用短路片。 当矩形波导终端短路时，将形成驻波状态。波导内部电场强度表达式为： E ＝ EY ＝ E0 sin sin?Z 在波导宽面中线沿轴线方向开缝的剖面上，电场强度的幅度分布如图三所示。 将探针由缝中插入波导并沿轴向移动，即可检测电场强度的幅度沿轴线方向的分布状态。 Y Z 两点法确定波节点位置 将测量线终端短路后，波导内形成驻波状态。调探针位置旋钮至电压波节点处，选频放大器电流表表头指示值为零，测得两个相邻的电压波节点位置，就可求得波导波长为： ?g ＝ 2 Tmin－ Tmin 由于在电压波节点附近，电场非常小，导致测量线探针移动“足够长”的距离，选频放大器表头指针都在零处“不动”，因而很难准确确定电压波节点位置，具体测法如下： 把小探针位置调至电压波节点附近，尽量加大选频放大器的灵敏度，使波节点附近电流变化对位置非常敏感。记取同一电压波节点两侧电流值相同时小探针所处的两个不同位置，则其平均值即为理论节点位置： 1 Tmin ＝ ? T1 ? T2 ? 2 最后可得?g ＝ 2 Tmin－ Tmin 间接法 矩形波导中的H10波，自由波长λ0和波导波长?g满足公式： ?g ＝ ???? 1 ? ? ? ?2a? 2 其中：?g＝3?108 /f ，a＝ cm 通过实验测出波长，然后利用仪器提供的对照表确定波的频率，利用公式 cλ0= 确定出λ0，再计算出波导波长?g。 校准晶体二极管检波器的检波特性 由于微波晶体检波二极管的非线性, 在不同信号幅度时具有不同的检波律。在一般测量精度要求的场合, 可认为在小信号时为平方律检波,大信号时为直线律检波, 或在系统信号幅度范围内做平均检波律定标。晶体检波二极管的定标准确与否, 直接影响微波相关参数的测量精度。 微波频率很高, 通常用检波晶体将微波信号转换成直流信号检测出来。微波晶体二极管是一种非线性元件, 检波电流I 同微波场强E 之间不是线性关系,在一定范围内, 两者关系为: 晶体检波二极管的检波电流随其微波电场而变化, 当微波场强较大时近似为线性检波律, 当微波场强较小时近似为平方检波律。因此, 当微波功率变化较大时a 和k 就不是常数, 且和外界条件有关, 所以在精密测量中必须对晶体检波器进行定标。 本实验中采用两种定标方法 第一种定标方法 检波电压U 与探针的耦合电场成正比。晶体管的检波律n 随检波电压U 改变。在弱信号工作情况下，近似为平方律检波，即n=2；在大信号范围，n 近似等于1，即直线律。 测量晶体检波器校准曲线最简便的方法是将测量线输出端短路，此时测量线上载纯驻波，其相对电压按正弦律分布，即： UU max ?2?d ?sin? ???g???? 式中 ，d 为离波节点的距离，Umax为波腹点电压，λg 为传输线上波长。 因此，传输线上晶体检波电流的表达式为 ?I?C?sin ?? ?2?d ????g ???????? n 根据上式就可以用实验的方法得到图所示的晶体检波器的校准曲线。 将上两式联立, 并取对数得到： 作出曲线, 若呈现为近似一条直线, 则直线的斜率即是微波晶体检波器的检波律。 第二种定标方法 测量线终端短路，测出半峰值读数间的距离W，晶体检波率可以根据下式计算： ??= logcosg 求得晶体检波率n，和所得的数值进行比较。 三、 实验结果分析 数据分析：由于此时波导中存在的是驻波，并且测量的位置是从波腹到相邻的波节，所以画出来的波形应该是正弦曲线的四分之一，由上图可以看出，实验结果基本符合，误差在允许 范围内。 、给出检波晶体的校准曲线，求出晶体检波率n。 上图为对数坐标，横轴表示logE，纵轴表示logU 分析：根据理论分析，上图应该是一条斜率为n的直线，而实际描出的点连成的线不是一条很直的直线，笔者决定采用理论拟合法拟合出一条直线。拟合后直线的斜率为，所以晶体检波率为。 第二种定标法 ?