[工学]第7章 MCS-51单片机接口技术2.pptVIP

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[工学]第7章 MCS-51单片机接口技术2

7.7.2 A/D转换器的选择原则 当确定使用A/D转换器以后,按下列原则选择A/D转换器芯片。 ①根据允许的总误差范围,选择A/D转换器精度及分辨率。 数据采集精度是综合精度,可分为传感器精度、信号调节电路精度和A/D转换精度。应将综合精度在各个环节上进行分配,以确定A/D转换器的精度要求,再根据它来确定A/D转换的位数。 ②根据信号对象的变化率,确定A/D转换速度。 对于快速信号的采集,如找不到高速A/D转换芯片,应考虑采用采样/保持电路。 ③根据计算机接口特征,考虑选择A/D转换器的输出状态。 比如要考虑A/D转换器是并行输出还是串行输出,是二进制码输出还是BCD码输出;用外部时钟、内部时钟还是不用时钟;有无转换结束状态信号;与TTL、CMOS电路的兼容性;与微机接口是否容易连接等。 【例】某信号采集系统要求用一片A/D转换集成芯片在1s(秒)内对16个热电偶的输出电压分时进行A/D转换。已知热电偶输出电压范围为0~0.025V(对应于0~450℃度范围),需要分辨的温度为0.1℃,试问应选择多少位的A/D转换器,其转换时间为多少? 解:对干从0~450℃温度范围,信号电压范围为0~0.025V,分辨温度为0.1℃,这相当于0.1/450=1/450的分辨率。12位A/D转换器的分辨率为1/212 =1/4096 ,所以必须至少选用13位的A/D转换器。 系统的采样速率为16次每秒,采样时间为62.5ms。对于这样慢的采样速度,任何一个A/D转换器都可以达到。可选用13位或13位以上带有采样-保持(S/H)的逐次比较型A/D转换器或不带S/H的双积分式A/D转换器均可。 IN3 IN2 IN4 IN1 IN5 IN0 IN6 ADDA IN7 ADDB START ADDC EOC ALE D3 D7 OE D6 CLK D5 VCC D4 Vref+ D0 GND Vref- D1 D2 ADC0809 8位CMOS模数转换芯片ADC 0809 √8位A/D,量化间隔=Vin/(256-1) √CMOS低功耗器件 √8 通道多路开关输入切换电路 √单电源+5,Vref=+5V Vin范围:单极性0—+5V √逐次逼近结构 √每次转换时间:?100?S 60个时钟周期, fmax=640KHz (推荐CLK=500KHz) √转换结果读取方式: ①延时读数 ②查询EOC=1 ③EOC申请中断 7.7.3 A/D转换器ADC0809 IN3 IN2 IN4 IN1 IN5 IN0 IN6 ADDA IN7 ADDB START ADDC EOC ALE D3 D7 OE D6 CLK D5 VCC D4 Vref+ D0 GND Vref- D1 D2 ADC0809 IN0—IN7:8通道模拟量输入端 D0—D7: 8位数字量输出端 ADDC、ADDB、ADDA: 接地址锁存器的低三位地址 ALE: 地址锁存允许控制信号 START:清0内寄存器,启动转换 OE: 允许读A/D结果,高有效 CLK:时钟输入端,应≤640KHz EOC:转换结束时为高 Vcc:+5V Vref+:参考电压,+5V Vref-:0V ADC 0809引脚定义: ADC0809 结构框图 8 通道多路开关 IN0 IN7 地址译码锁存 ADDA ADDB ADDC ALE 控制逻辑与时序 D/A转换器 SAR Vin 比较器 输出锁存器 START CLK EOC D0 D7 +Vref -Vref OE Vst + - ADC0809 与单片机的连接 89C51单片机 ADC 0809 锁存器74LS373 P0.0-P0

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