能量色散X射线荧光光谱分析大气颗粒中多种元素-分析测试中心.PDFVIP

第 21 卷 第 4 期 岩 　矿 　测 　试 Vol 21 ,No 4 　　　　　　　　 　　　 　　　　　　　 　　　　 2002 年 12 月 ROCK AND MIN ERAL ANAL YSIS December ,2002 文章编号 : 0254 - 5357 (2002) 04 - 0301 - 03 能量色散 X 射线荧光光谱分析 大气颗粒中多种元素 1 2 何文权 ,叶伯明 ( 1. 上海博物馆文物保护与考古科学实验室 ,上海 　200003 ; 2. 同济大学环境科学与工程学院 ,上海 　200092) 　　摘要 : 采用基本参数法 ,利用较少的几个标样 ,建立能量色散 X 射线荧光光谱对大气颗粒物 中多种元素的定量分析方法。在不破坏样品的情况下 ,可测定探测下限为 x ng/ cm2 的大气颗 粒物的无机元素 ,测量的 RSD ( n = 10) 为 0. 5 %～18. 1 % ,测定空气滤膜标准的结果与标准值符 合较好。 关键词 : X 射线荧光光谱 ; 空气滤膜 ; 无损分析 中图分类号: O657. 34 ; X13 　　　文献标识码 :B 　　大气中空气动力学直径小于 2. 5 μ 2 mA ,4～50 kV) 。准直孔有 1. 0 mm 、3. 5 mm 、7. 0 m 的颗粒物 (称为 PM2. 5 ) 具有散射光线的作用 ,从而对大气可 mm 三种 , 测滤膜时不用准直孔。软件由一台 见度有很大影响 ,对地球的辐射平衡也起到重要作 Compaq 台式机运行。 用[1 ] 。对该颗粒物空气滤膜的分析主要包括称重 由于测量各元素的最佳条件不尽相同,经过反 和化学分析 ,无机离子分析是化学分析中的重要组 复试验 ,最终确定分三个测量条件进行测量。原设 成部分。与仪器中子活化、原子吸收、等离子体发 想还应多一个针对 Mo 、Pd 、Cd 、In 等元素的测量条 ( ) 射光谱等分析技术相比 ,X 射线荧光 XRF 具有操 件 ,但在测量中 ,这些元素在滤膜样品中或没有探 作简便、样品不破坏等优点 ;考虑到滤膜的弹性会 测到 ,或测量的不确定度已几倍于含量 , 因此放弃 因测量中离子束和射线的辐照而下降 ,波长色散 了对这些元素的测量。最终所测元素确定为 20 ( ) XRF 和质子激发 X 荧光分析 PIXE 方法并不适 种 ,分 3 个测量条件进行 ,见表 1 。 合 PM2. 5 滤膜的测量。综合各方面考虑 ,能量色散 XRF ( EDXRF) 是较为理想的测量方法。本文采用 表 1 　分析元素的测量条件 EDXRF 中的基本参数法 ,利用较少的滤膜标样 , Table 1 　Measurement condition for elements 测定滤膜中颗粒物