ICDD研讨会—结构表征物性.PDFVIP

第十二届全国X-射线衍射学术大会 暨国际衍射数据中心（ICDD ）研讨会 —结构表征、物性、新材料 第二轮通知 一、会议主办单位：中国物理学会X 射线衍射专业委员会 中国晶体学会粉末衍射专业委员会 国家自然科学基金委员会工程与材料科学部 中国工程物理研究院 北京市硅酸盐学会 中国科学院物理研究所 International Centre for Diffraction Data ，USA 二、会议承办单位：中国工程物理研究院材料研究所 表面物理与化学重点实验室 重庆大学 三、会议时间地点： 时间：2015 年 10 月 26 日至29 日 地点：绵阳长虹国际酒店 四、会议摘要、论文投稿截止日期：2015 年 9 月 30 日。 五、会议安排： 1. 拟邀请国内外知名专家报告 X-射线衍射及相关领域的发展动态和最新进 展，ICDD 的专家介绍如何获取高质量衍射数据及其在各领域的应用等。 同时安排来自高等院校、研究院所、工业部门的专家、学者，研究生等就 国内X-射线衍射的研究及应用进行广泛的学术讨论和交流。 2. 大会组委会定于 10 月 26 日举办面向全国青年科技工作者和研究生的“X 射线衍射结构分析”培训班，内容包括：(1)薄膜结构、应力、织构、晶 粒分析等；(2)粉晶结构确定与精修，限定报名人数 100 人。培训班免收 学费，住宿费自理。培训班日程见附件 1。 3. 本次会议将设青年优秀论文奖和优秀墙报奖若干名，以学会名义颁发证书 和奖金，以鼓励从事X-射线衍射和相关领域的研究生和青年科技工作者。 4. 会议期间安排国内外厂商介绍仪器设备和技术的最新发展，并安排各厂商 专家针对用户使用中的问题，进行现场技术答疑。除报告外，会议期间还 将为厂家安排展台。 5. 经审稿后，确定会议录用，收集到会议论文摘要集。 6. 请参加会议的代表于 9 月 30 日前返回参会回执，会议回执见附件2 。 六、特邀报告 1、 Structural characterization of disordered layered oxides using pair distribution function analysis Alfred University, USA 【Prof. Scott Misture】 2、 Impact of Crystallography on Design of Cathode Materials for Li-ion Batteries Moscow State University, Russia 【Prof. Evgeny Antipov】 3、 Advanced Materials Analyses with the Powder Diffraction File™ ICDD, USA 【Dr. Timothy Fawcett】 4、 待定 ICDD, USA 【Dr. Thomas Blanton】 5、 多晶衍射数据采集和结构分析中经常遇到的问题及处理 NIST, USA 【Dr. Qingzhen Huang】 6、 SiC crystal growth technology for power device applications: current status and prospect Kwansei Gakuin University，Japa