[2018年最新整理]SPC统计手法和有关定义总1.docVIP

SPC统计手法和有关定义总结 SPC控制图的3σ原理：过程输出呈正态分布N（μ σ）其中μ为正态均值，σ为标准差。在3σ SPC控制图中μ为中心线，μ+3σ为上限，μ-3σ为下限，正态分布的概率为99.73%。 三条判稳原则： 连续25个点，界外点d=0，即连续25个点中没有一个点超出控制规格外，则该过程是稳定的。（1-C（0.9973）=0.0645） 连续35个点，界外点d≤1.超规格的概率为1-C(0.9973)-C(0.9973)（0.0027）=0.0041 连续100个点，界外点为d≤2.超出界外的概率为1-C（0.9973）-C（0.9973）（0.0027）-C（0.9973）（0.0027）=0.0026 八条判异原则 A B C C B A UCL LCL 只要有一点超出控制界限外，就判过程处于异常状态。 连续9点落在中心线同一侧，且为点键状（因为9点超出界外的概率与0.0027接近） 连续6点递增或递减（趋势）。 连续14点连续上下交替 连续3点中有2点落于中心线的同一侧的B区外（上下限平分为A、B、C） 连续5点中有4点落在中心线同一侧的C区外 连续15点落在C区之内，说明数据分组不当，控制规格太宽和数据不准确。 连续8点落在中心线两侧且无一点在C区内，说明过程标准差太大。 1）过程能力指数C、C一般是指短期的。C==即过程满足技术要求的能力，常用顾客要求与六西格玛的比值来表示。 2）C是指过程的平均值（μ）与过程的目标中心M发生了偏移的情形。C=（1-K）C K为偏移度，K＝，C的另一种表达方式C＝　C＝　　 C＝min{ C, C}过程西格码能力为Z=3 C 一般要求C或C≥1（大于1.33过程能力比较充足）。 控制图的常用类型及选择 1）.计量控制图 A.均值-极差控制图（-R）：精度尚可，使用方便，n=2-9 B.均值-标准差控制图（-S）精度最高，计算量大，n≥2. C. 中位数-极差控制图（Me-R））-R）：子组均值=，极差R=X-X K个子组的均值为=，K个数的极差平均值=，故的上限为UCL=+A 下限为LCL=- A；R的上限为UCL=D，下限为LCL=D 注：其中A、D、D为常数。 均值-标准差（-S）公式图的上下限分别为UCL=+A，LCL=-A；S的上下限分别为UCL=B，LCL=B；其中A、B、B为常数。 中位数-极差控制图（Me-R），极差为R＝X-X；K个子组中位数均值为 ＝；图的上下限为UCL＝＋A，下限为LCL＝－A；R图的上下限为UCL＝D，下限为LCL＝D。 单值-移动极差控制图（X-MR）-X移动均值为=，X图的上下限为：UCL=+E，LCL=-E； MR图的上下限为：UCL=D，LCL=D 计数控制图：平均不合格数为：=或（样本数相同）平均不合格率（）X样本数（n）=；不合格率上下限为：UCL=+3，LCL=-3 不合格数：控制图上下限为：UCL=+3,LCL=-3;计数控制图的样本大小为＜n＜，若要P控制图下限大于0即LCL=-3＞0，计算得n＞9(-1) 计点控制图：缺陷数控制图（限于样本数相等）C为缺陷数，UCL=+3，LCL=-3 单位缺陷数U，UCL=+3，LCL=-3，过程能力分析为平均缺陷率U或DPU及百万个机会中的缺陷数DPMO表示 累积和（CUSUM）控制图 1）.累积和是指：逐次抽取的容量为n的样本中检出不合格品数或缺陷数对其目标值的偏差之和。其使用条件为：生产是连续的，按时间次序获得的样本代表了随着时间推移的过程质量水平，并且生产过程的质量水平处在一个稳定的状态。公式：C= 2）.判定原则：如果累积图中样本特性值C的轨迹有向上的趋势，表示质量不变坏的倾向，若呈水平趋势或平缓向上的趋势，则表示质量有变好的倾向。通常规定一个警戒值K，一般K＞T，再定义一个参数h，称为决策区间，如果任意一点与最后一点的距离大于等于h时，则判定过程已经发生异常。即累积和C=，对于任意一点C-C≥h（当累积和小于0时，下一次累积和大于h时判定为过程异常）。 3).一般平均链长用L表示，L表示失控过程的平均链长，规定过程不良率为P，当过程不良率P＞P时失控，在国际中L=1000，L≈10称为C方案；L=200，L≈5称为C；累积和控制图参数表中T=nP=, 或表示失控过程的平均缺陷数，或表示对应受控过程的平均缺陷数。 4）.计数累计和控制图步步骤： A.给出L或L以确定方案C或C B．根据产品的规范给出产品的受控的不合格率P和失控不合格率P，注意P/ P的值不能太大。 C.当用方案C时，根据P/ P从/栏目中找出相应的最近比值，从而确定样本容量n= T/ P,从而得出对应行中的h和K的参数；当n较大时≈nP, P/ P=nP/n P=/或