光达雷射脉冲回波分析对於提升定位精度之研究.docVIP

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光达雷射脉冲回波分析对於提升定位精度之研究

光達雷射脈衝回波分析對於提升定位精度之研究光達(Light Detection And Ranging, LiDAR)是近年來最熱門的測量技術,其能快速的獲得物表的三維點坐標,並可用以生產DSM(Digital Surface Model),建立三維建物模型等,但是它有缺點:不容易獲得建物角點與邊緣線上的點光達點資料量雖大,但是,且不容易辨識,可靠度低。(footprint,以下稱為footprint)之空載光達系統對波形處理採內嵌式且用相當簡易的方式決定時間點推算距離並結合掃瞄及定位系統計算點雲三維坐標,此種方式明顯無法妥善處理高程變異顯著的地物表而造成點位錯位,例如當光達光跡落於建物邊緣、樹林、植物等物表上時。較新的光達系統記錄方式是紀錄完整的回波(full waveform),如一段波形紀錄128個取樣點,其優勢是能夠完整的紀錄光達內的高程變化,提升距離的精度使用者能依自己的需求來選擇波形偵測模式與時間取樣方式,在應用上更為寬廣,且更能發揮光達在高程上高精度的優勢。 本研究主要針對光達footprint直徑在1m以內的光達系統而論,此類光達系統主要功能為獲得三維物表坐標,並作為生產DSM建立三維建物模型等需要高精度的應用,因此有必要提升光達坐標的精度與描述物表的細節程度。由於完整波形的光達系統尚不普遍,本研究發展出光達完整波形模擬器與光達幾何定位模擬器,用以產生實驗地形與光達資料作為研究,此光達模擬器不僅能作為研究資料生產,也期望能作為光達資料精度評估的有效工具。 本研究分析傳統光達系統取樣方式在建物邊緣上造成的誤差以了解現行模式可能的問題1所示,本文主要介紹波形偵測錯位誤差分析,包括影響回波與定位精度之變因探討與錯位誤差實驗分析,並於錯位誤差實驗分析中結合系統誤差的造成光達定位影響一併探討。 圖1 研究流程圖 介紹 空載雷射掃瞄系統是一種主動式的量測系統,其經過雷射掃瞄儀、S)、S)的整合,可以直接得到物表的三維空間資訊典型的雷射掃瞄儀可雷射的大小與航高及雷射光的情況有關,雷射的情形可以感測器的IFOV(Instantaneous Field Of View )定義之。一般空間中光束其IFOV大約介於0.3 mrad至2 mrad之間(Wehr and Lohr, 1999),在航高500公尺時,其地面直徑大概為30公分IFOV較大時通常是用於量測的物體體積較小,以確保能有效涵蓋到物體,如樹木的頂端或電力線等,但是涵蓋範圍較大導致定位精度降低,因此位置精度是隨IFOV成正比影響。 雷射能量於IFOV內的分布以中心位置最強,越外圍能量越弱,通常以三維的高斯分布來描述雷射能量的分布情形,如圖2。 圖2 三維高斯分布 當接收器所接收的脈衝振幅高於既定門檻值或其他演算法計算值時將會被記錄下來,有些儀器也會紀錄最後或中間的反應值(echo)。若整個雷射是打在平坦的物表上則回波僅會有單一個波峰與一個紀錄值,激發一個脈衝所需的時間稱為脈衝寬度(pulse width),假如脈衝寬度為5ns,將產生一條1.5公尺長的光線,且與多樣的物表反射下,會使回波複雜化,如圖3。 針對以往的記錄方式不足以描述複雜的物表變化,近幾年來許多系統如RIEGL LMS Q560、LITEMAPPER 5600、OPTECH ALTM 3100、TOPEYE II等使用了新的記錄方式來紀錄整段回波紀錄,比如將每次發射脈衝的回波紀錄為128個取樣點,取樣間隔為0.5ns,相當於光線上每15公分一個取樣,如圖3。 圖3 不同物表的回波,紅色與綠色水平線代表系統紀錄的反應值。 (Pyysalo, 2006) 完整波形模擬器 本研究實驗測試的雷射掃瞄波形資料主要以完整波形模擬器產生,模擬器根據輸入的地形資料、發射點、footprint中心點等資料可以產生不同配置下的完整回波波形資料,可作為模擬光達系統數值化處理後的波形資料。 圖 光達完整波形模擬器流程footprint涵蓋於建物上的距離差較小,不可視面上footprint涵蓋範圍包括建物與其他物表,距離差較大。針對不可視面的建物物屋頂邊緣上光達點可以估算其錯位誤差的極大值,假設footprint涵蓋範圍內位置最低與最高的高程差為Δh,掃瞄角為α,可計算得距離的最大差異量Δr如式(1),令雷射單位向量為[l, m, n]T,可計算可能產生的錯位誤差最大值如式(2)。另外式(1)也顯示錯位誤差與footprint範圍內高程差異正相關,且與掃瞄角相關。                        1              2 圖5 掃瞄可視面與不可視面 回波時間的估算也是決定錯位誤差大小的重要因素,若每次皆取回波時間的中間值計算距離,則可能產生的錯位誤差最大值只有式(2)的

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