硬件部分测试系统测试说明书.PDFVIP

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2018-02-28 发布于天津
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硬件部分测试系统测试说明书

Juno DTS-1000 硬件系统说明书 JUNO 分立器件测试系统 DTS-1000 硬件部分测试系统测试说明书 1 Juno DTS-1000 硬件系统说明书概要 DTS-1000 系统测试机通过与分选机、探针台连接，可实现半导体分立器件的高速测试、分选，该系统可测器件包括晶体管、场效应管(MOS-FET)、二极管(Diode)、稳压管二极管(Zener)，通过增加选件(Option)可测试可控硅(SCR)、稳压管(3Terinal Regulater、,Shunt Regulator)、放电管(TVS)等等。系统具有良好的扩展性，电压可扩展最大到 3000 伏（V），电流最大到 200 安（A）。并且系统配置灵活，可为不同客户进行最经济的系统配置。为客户特殊器件专门设计软、硬件。可将测试数据转换成 EXCEL 格式，方便客户进行数据交换。测试系统由测试主机 DTS-1000、测试接口盒 HDXXXX 及控制用电脑 PC 构成。测试主机主机中包括器件的偏置部分、测量部分，CPU 部分及外部接口（I/F）部分。标准测试主机、可测如下器件：二极管、纳二极管、晶体管、MOS—FET、接合型 FET。增加选件，可测器件为：可控硅、三端双向可控硅、三端双向可控硅开关件、三端稳压器， D—GATE、FET、霍尔器件等。测试接口盒接口盒中包括含所测器件各端子间的继电器网路及小电路测量回路。根据不同需要有不同的测试接口盒供选择。接口盒体积小，便于安装。在接口盒上增加选件，可作为手动测试站。控制用电脑 PC用英文Windows98系统，测试控制软件为JUNO公司自行研发的专用系统，操作极为方便。外型尺寸： 500 AB I/F D iscrete Sem iconductor Tes t System