嵌入式系统的设计方法具体设计演示幻灯.pptVIP

6.1 .3 电感 1）电阻 2）电容 3）电感 4）二极管 5）三极管 6）场效应管 7）晶振 功能： 储能、滤波、运算参量 常见数值 10uH,47uH 等 6.1 分立元件 3.1开发平台的组成 1）开发平台：由开发工具和应用资源组成； 2）开发工具：包括仿真环境（仿真器、计算机、开发软件）、烧写器以及其它辅助调试的工具等，其中最重的是仿真器和软件开发环境IDE； 3）应用资源：包括单片机厂家提供的子程序库、部件的应用实例等资料，以及设计者在开发过程中不断积累的软件模块、硬件方案（被实践验证是正确的资料）。 开发平台（1） 3.3 仿真工具 1）功能：仿真器与计算机、配套的软件集成开发环境(IDE)一起协调工作，相当于一个运行状态可以人为控制的单片机，实现断点设置、变量观察修改；应用程序的编辑、编译、连接、下载等功能 2）仿真器技术： Bondout 、HOOKS 、JTAG技术 3）JTAG的优点：结构简单、成本低、通用性好； 4）JTAG的实现：芯片中嵌入JTAG调试模块，配合 JTAG仿真器和IDE来实现仿真调试； 5）JTAG仿真器种类：并口下载头、并口仿真器、 USB 接口的仿真器等。 开发平台（2） 3.3 开发平台组建 1） 在计算机上安装ADS1.2：在计算机上安装ARM公司开发的集成调试环境ADS1.2； 2）设置相应的工程模板：启动ADS1.2，参照《ARM嵌入式系统实验教程一》 3）安装EasyJTAG-H仿真器的驱动程序：具体安装步骤参见光盘中文件“EasyJTAG-H仿真器的安装与应用.pdf”的提示，驱动程序在光盘“ARM嵌入式系统实验教程（一）\第2章\H-JTAG”。 开发平台（3） 3.3 开发平台组建 4）EasyJTAG-H一端接计算机并口，另一端接嵌入式开发实验箱，给发评估板加上稳压电源； 5）启动ADS1.2，调入光盘上“ARM嵌入式系统实验教程一”目录下的某个实验代码的工程文件，进行调试； 6）提示：由于H-JTAG驱动程序的缺陷，目录名称用全英文，目录级数不要太长。 开发平台（3） 集成开发平台 ADS1.2 集成开发平台 ADS1.2 ARM汇编编译器选项：CPU-ARM920T，小端对齐，ARM指令格式，无浮点运算 第二讲 嵌入式系统的设计方法 1 设计准则 2 设计步骤 3 开发平台 4 测试技术 5 主要性能 6 设计素材 4.1 测试原因 1）纠正软件错误 寻找软件中的错误，实现预定的功能； 2）减少风险 有缺陷的产品流入市场，当缺陷暴露的时候， 修复的代价会非常高； 3）提高性能 找到并清除无效代码，帮助确认软件是否已经 完全挖掘出硬件潜力，从而优化应用软件。 测试技术（1） 4.2 测试内容 1）功能测试 是否到达设计任务书中的规定内容。 2）覆盖测试 测试软件中的每一个子程序或功能模块，发现 并纠正错误。 3）可靠性测试 在各种可能出现的干扰环境下(模拟环境或现 场环境)，如电磁干扰、电源波动等，考察样 机能否正常运行。 测试技术（2） 4.3 测试方法 1）开发过程中的测试 简单、效果好，设计者采用； 2）黑盒测试 不考虑内部细节，在输入端加激励，分析输出 端响应，用于功能测试，用户或设计者采用。 3）灰盒测试 需要知道与测试相关的部分程序，有时需要插 入供测试用的指令，测试完毕后清除。用于覆 盖测试或功能测试，一般设计者采用。 测试技术（3） 测试阶段 1 嵌入式软件测试方法 2 嵌入式软件测试工具 3 嵌入式软件测试过程 4 cross-test测试策略 嵌入式软件测试方法 嵌入式软件测试也可叫做交叉测试，具体的软件测试过程如图 嵌入式软件测试方法 软件测试方法有不同的划分方法。 从软件开发过程中测试所处的不同阶段可分为模块测试、集成测试和系统测试。 根据是否需要运行目标代码分为动态测试和静态测试。 根据目标代码的可见性可分为白盒测试（结构测试）、黑盒测试（功能测试）。 嵌入式软件测试方法 测试方法 白盒测试或基本代码的测试检查程序的内部设计。根据源代码的组织结构查找软件缺陷，一般要求测试人员对软件的结构和作用有详细的了解。 黑盒测试在某些情况下也称为功能测试。这类测试方法根据软件的用途和外部特征查找软件缺陷，不需要了解程序的内部结构。 嵌入式软件测试方法 灰盒测试，是介于白盒测试与黑盒测试之间的， 灰盒测试关注输出对于输入的正确性，同