6標準差講義C.pptVIP

Step 6 計算不良數的管制界限： 不良數的上下管制界限公式如下： 在計算管制下限有時會有負值產生，此時以0代替 Step 7 判讀nP圖： nP圖判讀方式如P圖，其流程圖如P圖 * 缺點數管制圖C_Chart 適用製程：以單位數量內缺點發生之次數；樣本大小n要相同 製作c（缺點數）管制圖的注意事項： c管制圖適用於管制一批產品中具有幾個“缺點”時所使用的表格 基本上c圖是用來“數”每批被檢驗具有多少個缺點，當然有時缺點為0個 c（缺點率）管制圖的製作： Step 1 取樣：（同P圖） 決定樣本規模 取樣時可能一個樣本為一個獨立個體，亦有可能具有有數個個體所組成，此時皆令其為一個樣本。 c圖並沒有規定必須要多少樣本，但是一旦決定樣本數時，每次取樣皆需相同。 Step 2 將基本資料填入c圖中： 同P圖 Step 3 收集樣本及記錄資料： 藉由品質管制（QC工程表）上對於此一產品所需檢驗的項目進行檢查，並記錄其缺點數，此一數值即為c。 Step 4 計算製程中平均缺點數c： 將缺點數加總再除以檢驗次數 c=39/20=1.95 Step 5 決定座標範圍及點繪資料： 預留適當空間以免圖形過小不易觀察或過大超出界限 Step 6 計算缺點數的管制界限： 缺點數的上下管制界限公式如下： 在計算管制下限有時會有負值產生，此時以0代替 Step 7 判讀c圖： c圖判讀方式如P圖，其流程圖如P圖 * 單位缺點數管制圖U_Chart 適用製程：與C管制圖相同，但其檢查單位（樣本大小n）可不同 * * 控制圖的選擇 二項分佈 卜瓦松分佈 獨立分佈 正態分佈 “n”=10~25 控制圖的選定 資料性質 不良數或 缺陷數 單位大小 是否一定 “n”是否一定 樣本大小 n≧2 Cl的性質 “n”是否較大 “u” 圖 “c” 圖 “np” 圖 “p” 圖 X-Rm 圖 X-R 圖 X-R 圖 X-s 圖 計數值 計量值 “n”=1 n≧1 中位數 平均值 “n”=2~5 缺陷數 不良數 不一定 一定 一定 不一定 缺陷數 單位產品 缺陷數 * The End of Phase C! * 最大平均值=0.63 最小平均值=0.54 總平均=0.58 UCLx=0.652 LCLx=0.507 最大全距=0.19 最小全距=0.07 平均全距=0.13 UCLR=0.275 LCLR=0 UCL=0.652 CL=0.58 LCL=0.507 UCL=0.275 CL=0.13 * Step10.計算製程準確度Ca值 Step11.計算製程精密度Cp值 * Step12.計算製程能力Cpk值 Step13檢討製程能力 改善措施 管制界限延續使用 * 異常現象圖 A B C 2σ 3σ 1σ 離 散 只 有 前 四 項 * 連續出現上側（8點）或上升（7點） 設備故障 單一製程條件改變 新材料或不均勻材料批 量測系統改變，新人或新設備 連續出現下側（8點）或下降（7點）-同上 平均值連續3點中，有2點在2倍σ和3倍σ之間，即A區 製程或抽樣包含不同變異來源，如進料混批 計算或描點錯誤 平均值連續5點中，有4點在1倍σ和2倍σ之間，即B區。 每組數據系統性的包含不同製程平均，如多線多機各取一個樣本 計算或描點錯誤 數據修改 * Rbar的大小決定Xbar管制界限的寬度，太寬的管制界限不易偵測製程中心的變異；太窄的管制界限對製程中心的變異太敏感。因此，蒐集數據實應合理的分組，使得同時間取樣的組內變異只有共同原因存在。 合理的分組，就是同一組數據盡量是同一時間、同一作業條件生產的產品。 * 平均值與標準差管制圖 n A3 B4 B3 10 0.975 1.716 0.284 11 0.927 1.679 0.321 12 0.886 1.649 0.354 13 0.850 1.618 0.382 14 0.817 1.594 0.406 15 0.789 1.572 0.428 16 0.763 1.552 0.448 17 0.739 1.534 0.466 18 0.718 1.518 0.482 管制界限係數表 適用製程，與平均值與全距管制圖相同，n≧10 * 先確立製程穩定且製程能力足夠 Step1.蒐集欲管理項目之數據-取200個以上。10個為一組。 Step2.計算各組間樣本的平均值及標準差 建立步驟 * Step3.從各組的平均值與標準差計算中心線 Step4.計算標準差管制圖的管制線 * Step5.計算平均值管制圖的管制線 Step6.繪製管制界限及中心線，平均值管制圖在上，標準差管制圖在下 平均值管制圖，CL劃實線，UCL及LCL是虛線 標準差管制圖，CL劃實線，UCL及LCL是虛線 在管制線末端