[工学]第6章 宏观残余应力的测定.pptVIP

第六章 宏观残余应力的测定 残余应力：指当产生应力的各因素（外力，温度、相变等）不复存在时，因不均匀塑变或相变，而残留在构件内部，并自身保持平衡的内应力。 残余应力：对材料疲劳强度、抗蚀性、磁性等均有影响。 X射线应力测定： 在评价材料强度、控制加工工艺，检查产品质量等方面都具有重要的作用。 优点：属非破坏性，可测定表层（极浅层）和局部小区域的应力等。 不足：测定准确度尚不十分高。 1979年，德国的马克劳赫.E提出，按其平衡范围可分三类。 第Ⅰ类内应力σⅠ：衍射效应：使衍射线产生位移。 在物体较大体积或多晶粒范围内存在并保持平衡的应力。此类应力释放，会使物体宏观体积或形状发生变化，称之为“宏观应力”或“残余应力”。 第Ⅱ类应力σⅡ：衍射效应：引起线形变化（峰宽化）。 在一个或少数个晶粒范围内存在并保持平衡的内应力。 第Ⅲ类应力σⅢ：衍射效应：能使衍射线减弱。 在若干原子范围存在并保持平衡的内应力。 第Ⅱ类应力和第Ⅲ类应力称为：“微观应力”。 二、宏观应力测定的原理 X射线衍射法：通过测量弹性应变ε，求得应力值σ。 对理想多晶体（晶粒细小均匀、无择优取向）： 无应力状态：不同方位的同族{hkl}晶面间距 d 相等； 应力σφ状态：不同晶粒的同族{hkl}晶面间距 d ，随晶面方位ψ及应力σ大小发生规律变化。 某方位面间距 d 相对于无应力时的变化（Δd/d），