TGA7热重分析仪适用於微量分析高灵敏度Han.pdf

TGA 7 熱重分析儀 適用於微量分析 高靈敏度Han-down-wire 設計 靈敏度0.1 g 雜訊0.1 g 升降溫速度200oC/min 檢測服務 樣品純度，水份含量，相轉移溫度，重量變化，動力學分析 DSC 7 補償式熱掃描卡量計 溫度範圍-100 ℃～400℃ 高靈敏度1 w 升降溫速度500℃/min 超強耐腐蝕白金-銥(Pt-Ir)合金爐體 超高解析度15.5mw/℃能量精確度0.1％ 檢測服務 相轉移溫度，熱量變化，動力學分析 掃描式探針顯微鏡SPM 儀器機型: DI NS3a-2/MMAFM 主要適用於材料表面結構之量測 樣品可掃描範圍X 軸×Y 軸(7 μm ×7 μm) Z 軸3 μm 檢測服務 Contact mode 和Tapping Mode X 射線繞射儀XRD 適於任何具結晶性之物質，包括高分子金屬、陶 瓷、電子材料。 試樣可為粉末、纖維、薄膜任一形式。 具溫控設備高溫可達1300℃。 具pole figure 附件可定量描繪晶體順向性。 檢測服務 結晶性物質2 θ掃瞄分析，晶體順向性分析，溫度老化對晶形轉換之影 響，晶體結晶度量測，晶體尺寸大小評估。 高解析場發射掃描式電子顯微鏡(JEM 6700) 本電腦化操作之高解析場發射掃描式電子顯微 鏡，其特點為以冷場發射電子槍產生探測電流範 圍較低及能量均一之電子束，適合熱敏感樣品之 分析，並在低加速電壓下，亦可獲得高解析品質 之影像。能提供金屬材料、電子材料及高分子材 料等於高倍率下之二次電子影像(SEI)及背反電子 影像(BEI)之表面型態觀察。本機台同時配置有能 量分散光譜儀(EDS)能做元素成分之定性及半定量 分析之工作。 檢測服務 1.SEM ：樣本表面之觀察及照相。 2.EDS ：原子序6 以上之元素的全能譜。 聯絡人：陳菊英(06-2757575 轉62609 ；z9608068@email.ncku.edu.tw) 穿透式電子顯微鏡(H-7500) H-7500 型穿透式電子顯微鏡光源是傳統的鎢絲燈。電 子流過燈絲尖端再以高電壓（~40-120kV ）將電子加 速，經過電磁透鏡聚焦，穿過樣品投射於CCD 顯示 器，達