0-2模电实验3P-半导体器件特性仿真1(OrCAD-16.0)教材教学课件.pptVIP

半导体器件特性仿真 P266 实验6 1、 了解 CAA 的一般过程，了解 OrCAD-PSpice 软件常用菜单和命令的使用。 2、掌握 OrCAD 中电路图的输入和编辑方法。 3、学习 OrCAD 分析设置、仿真、波形查看方法。 4、学习半导体器件特性的仿真分析方法。 实验目的 1. 仿真分析二极管的伏安特性。 2. 仿真分析二极管的温度特性。 3. 仿真分析二极管两端的输出波形。 4. 仿真分析三极管的输出特性。 实验内容 输入电路图，设置合适的分析方式及参数，用仿真软件OrCAD PSpice 分析二极管的伏安特性。 实验内容1：仿真分析二极管的伏安特性 VSIN元件 二极管伏安特性测试电路 电源信号可以选择： VSRC、VSIN、VDC 等 实验内容1：仿真分析二极管的伏安特性 DC Sweep- Primary Sweep (主扫描）设置 实验内容1：仿真分析二极管的伏安特性 — PROBE显示 二极管的伏安特性曲线 DC Sweep - Secondny Sweep ( 次扫描、内嵌扫描）设置 在直流分析中设置对温度的内嵌分析，仿真分析二极管在不同温度下的伏安特性。 实验内容2：仿真分析二极管的温度特性 选中 仿真二极管温度特性时的设置 选中 二极管的温度特性曲线 实验内容2：仿真分析二极管的温度特性 — PROBE显示（三种不同温度） +30℃