[工学]反光显微镜湖南大学.pptVIP

湖南大学土木工程学院 反光显微镜的概念： 反光显微镜是利用光线垂直照射到试样磨光面上，经反射产生的光学性质及其特征来鉴定晶体和研究显微结构的。 经磨光的试样称为光片。所以反光显微镜光片研究法又称为光片研究法。简称光片法。 3.1 反射光学基础 3.1.1 晶体的光吸收性 I总=I透+I吸+I反 (1)透明度及吸收性晶体 透明度：根据光线透过薄片标准厚度后被吸收的程度。 透明、半透明、微透明、不透明 透明和半透明晶体主要是用偏光显微镜研究 半透明、不透明晶体用反光显微镜来研究 吸收性晶体：那些对入射光吸收能力相当强，光线不能透过标准厚度薄片的不透明晶体称为吸收性晶体。 (2)晶体的吸收系数和吸收率 光线在真空中传播一个波长，称为一个真空波长，以λo表示； 光线在晶体中传播一个波长，称为一个晶体波长，以λ代表； 光线在晶体中传播一个真空波长时对光波的吸收值，称为晶体的吸收系数，以K表示； 晶体对传播一个晶体波长光线的吸收值，称为晶体的吸收率，以k代表。 K= kλo/λ=nk 其中n为晶体的折射率。 晶体的吸收率k只是相对值，没有固定标准，所以晶体的吸收性都是用吸收系数K来表示的。 大多数晶体的吸收系数都小于2 不透明晶体的K值在1.5~2之间 半透明晶体的K值为10-1~10-2 透明晶体的K值只有10-4的数量级 当吸收系数在0.03以上时，晶体在薄片中就不透明，最多仅呈微透明。 晶体的吸收性在均质体和非均质体中亦是不同的； 均质晶体的吸收系数是各向同性的、无方向性； 均质晶体的吸收系数亦是方向异性的。光线因传播方向不问，对光线的吸收系数也是不等的。 3.1.2 晶体的反射力和反射率 光线垂直照射到晶体光片磨光面上的反射能力，称为晶体的反射力； 衡量晶体反射力的指数，叫做晶体的反射率，以“R”来代表。 (1)反射率的含义 晶体对光线吸收性愈强，光片表面产生的反射光亦就愈强，在薄片中则为不透明晶体。 反射光强度Ir与入射总光强度Ii之比，称为晶体的反射率R，即 R= Ir / Ii ·100% 晶体的反射率是表示晶体反射力的指数，为反光显微镜下晶体的主要光学常数。 (2)影响反射率的因素 1)晶体的吸收系数直接决定晶体的反射率 不透明晶体吸收系数较大，反射率亦就较大； 透明晶体的吸收系数很小．可忽略不计，反射率亦就很小。 2)晶体折射率大小显著地影响着反射率 透明晶体的吸收系数很小，可忽略不计，反射率主要是由折射率决定的。 3)白光中不同波长的单色光对同一晶体的反射率是不同的 在折射率较大晶体中，这种影响是比较显著的。 金(Au)，对波长为537nm绿光的反射率为47%，对589nm橙光的反射率为82.5%，而对波长为658nm的红光，反射率则为86%等。 4)光片磨光面的质量对晶体反射率的影响亦很显著 3.1.3 晶体的反射非均质性 非均质晶体的反射率随光线的传播方向及偏光的振动方向而改变的非均质性现象。 一轴晶晶体有常光反射率(Ro)和非常光反射率(Re); 二轴晶晶体则有Rg、Rm、Rp三个主反射率。 3.2 反光显微镜及试样制备 3.2.1反光显微镜的构造 反光显微镜包括金相显微镜和矿相显微镜。 金相显微镜是在自然光照明下主要研究金属材料的金相结构，故称为金相显微镜。 矿相显微镜是在金相显微镜光路中加入偏光系统构成在偏振光照明下的。 金相显微镜 矿相显微镜 3.2.2反光显微镜的垂直照明器 垂直照明器的光源 垂直照明器的进光管 垂直照明器的反射器： 玻璃片反射器，棱镜反射器 玻璃片反射器：反射能力弱，视野较暗， 光线均匀，分辨率高。 棱镜反射器：反射能力强，视野较亮，视线不均匀，分辨率低。 3.2.3反光显微镜试样的制备 反光显微镜研究的试样要制成合格的磨光片或称抛光片，简称为光片。 为更好地鉴定晶体和研究显微结构，有时将已制成的厚度为0.03mm的薄片，再将一面抛光而制成光片，这称为光薄片。目的是在进行反射光研究的同时，可对试样进行透射光研究。 (1)光片磨光面的质量 试样的光片是用金刚砂将小块试样一面磨平并抛光，抛光所获得的平面，称为光片的磨光面或抛光面。 合格的磨光面应是准物理镜面，不存在擦痕和麻点等缺陷。 (2)试样光片的制备 主要有块状试样和粉状试样两类。它们的制备程序及方法略有不同。 粗磨 精磨 抛光 (3)试样光薄片的制备 磨制试样光薄片尤其是超薄光薄片，需要用环氧树脂作为粘结剂才能制备成功。 3.3 反射光下晶体的光学性质 反射率及双反射 反射色及反射多色性 内反射及内反射色 偏光色、偏光图 在无机材料显微结构分析时，主要是测定晶体的反射率、观察和研究晶体的反射色和内反射。 3.3.1 晶体的反射率 反射率是显微镜下研究和