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数字逻辑试验指导
数字逻辑实验指导
数字逻辑实验指导
数字逻辑实验指导
钟 紫 鲮 编
上海大学计算机工程与科学学院
实 验 中 心
二〇〇六年九月
目 录
第一部分 实验准备
第一章 数字逻辑实验要求························································································ 预备-1
第二章 数字逻辑实验基本知识················································································ 预备-2
第三章 MAX+plus II 实验操作步骤 ········································································· 预备-5
第二部分 实验
实验一 逻辑门电路的功能与测试 ····························································· 实验-1
(一) 或门的逻辑功能测试
(二) 与非门 74LS00 的逻辑功能测试
(三) 或非门 74LS02 的逻辑功能测试
(四) 与非门 74LS20 的逻辑功能测试
(五) 异或门 74LS86 的逻辑功能测试
实验二 复合逻辑电路功能的实现测试··················································· 实验-6
(一) 用与非门组成异或门并测试验证其功能
(二) 用与非门构成同或门并测试验证其功能
(三) 用或非门实现逻辑函数的功能并进行测试验证
实验三 组合逻辑电路实验-11
(一) 逻辑电路的逻辑关系分析
(二) 分析 74LS00构成的组合电路,看它具备什么功能
(三) 利用现有器件,实现具有以下逻辑函数功能的电路并测试验证。
(四) 用可编程逻辑电路开发环境 MAX+plus II 对 ACEX 器件编程,实现以下电路的逻
辑函数功能并测试验证。
(五) 思考题
实验四 半加器、全加器及逻辑运算实验·············································实验-18
(一) 组合逻辑电路功能测试
(二) 测试用异或门(74LS86)和与非门(74LS00)组成的半加器的逻辑功能。
(三) 测试全加器的逻辑功能。
(四) 测试用异或、与非门组成的全加器的逻辑功能。
(五) 用可编程逻辑器件的开发工具 MAX+plus II 进行集成全加器 74LS183 的功能测试
(六) 思考题:用可编程逻辑器件的开发工具 MAX+plus II 对 ACEX 编程,设计实现四
位的二进制并行加法器。
i
(七) 思考题:用可编程逻辑器件的开发工具 MAX+plus II 对 ACEX 编程,设计实现四
位二进制减法器。
实验五 编码器、译码器、数据选择器和数值比较器 ···················实验-25
(一) 4 线-2 线编码器
(二) 2 线--4 线译码器功能测试
(三) 译码器转换
(四) 数据选择器的测试及应用
(五) 两位数值比较器功能测试
(六) 思考题:用 MAX+plus II验证 10 线/3线优先编码器 74LS147的
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