CN107456235-CN201710546054-位置校正方法和系统.pdfVIP

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 107456235 A (43)申请公布日 2017.12.12 (21)申请号 201710546054.1 (22)申请日 2017.07.06 (71)申请人 沈阳东软医疗系统有限公司 地址 110167 辽宁省沈阳市浑南区创新路 177-1号 (72)发明人 赵健　吴国城　徐保伟　王希　 梁国栋　李楠　 (74)专利代理机构 北京博思佳知识产权代理有 限公司 11415 代理人 林祥 (51)Int.Cl. A61B 6/00(2006.01) A61B 6/03(2006.01) 权利要求书2页 说明书9页 附图6页 (54)发明名称 位置校正方法和系统 (57)摘要 本申请提供一种位置校正方法。该位置校正 方法包括通过晶体阵列接收光子并产生光信号。 所述晶体阵列包括具有不同的晶体衰减时间的 至少两种晶体，所述至少两种晶体在接收光子的 接收面上间隔排列。该位置校正方法还包括将所 述光信号转换为电信号；根据所述电信号确定所 述光子入射至所述晶体阵列的位置信息和所述 电信号的信号衰减时间；及比对所述信号衰减时 间和所述晶体衰减时间，确定所述信号衰减时间 所符合的所述晶体衰减时间对应的晶体，来校正 所述位置信息。本申请还提供一种位置校正系 统。 A 5 3 2 6 5 4 7 0 1 N C CN 107456235 A 权　利　要　求　书 1/2页 1.一种位置校正方法，其特征在于：其包括： 通过晶体阵列接收光子并产生光信号，所述晶体阵列包括具有不同的晶体衰减时间的 至少两种晶体，所述至少两种晶体在接收光子的接收面上间隔排列； 将所述光信号转换为电信号； 根据所述电信号确定所述光子入射至所述晶体阵列的位置信息和所述电信号的信号 衰减时间；及 比对所述信号衰减时间和所述晶体衰减时间，确定所述信号衰减时间所符合的所述晶 体衰减时间对应的晶体，来校正所述位置信息。 2.如权利要求1所述的位置校正方法，其特征在于：所述根据所述电信号确定所述光子 入射至所述晶体阵列的位置信息和所述电信号的信号衰减时间，包括： 构建编码分割表，所述编码分割表包括与所述晶体阵列的晶体相对应的若干编码区 域；及 利用所述编码分割表确定所述位置信息。 3.如权利要求2所述的位置校正方法，其特征在于：所述比对所述信号衰减时间和所述 晶体衰减时间，确定所述信号衰减时间所符合的所述晶体衰减时间对应的晶体，来校正所 述位置信息，包括： 构建位置校正表，所述位置校正表包括所述若干编码区域内的若干子区域；及 利用所述编码分割表和所述位置校正表校正所述位置信息。 4.如权利要求3所述的位置校正方法，其特征在于：所述构建编码分割表，包括： 根据若干光子的位置坐标，生成显示所述若干光子分布的二维位置散点图；及 根据所述二维位置散点图上的所述若干光子的分布重心，在所述二维位置散点图上分 割出与所述晶体阵列的晶体数目相同且包含所述分布重心的若干区域，并对所述若干区域 进行编码，获得所述编码分割表。 5.如权利要求4所述的位置校正方法，其特征在于：所述构建位置校正表，包括： 通过所述二维位置散点图上的所述若干光子的分布重心的连线，在所述二维位置散点 图上分割出所述若干子区域，获得所述位置校正表。 6.如权利要求3所述的位置校正方法，其特征在于：所述利用所述编码分割表和所述位 置校正