CN107066729-CN201710234972-设计相位滞后校正环节的时域性能曲线图法.pdfVIP

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 107066729 A (43)申请公布日 2017.08.18 (21)申请号 201710234972.0 (22)申请日 2017.04.12 (71)申请人 北华航天工业学院 地址 065000 河北省廊坊市广阳区爱民东 道133号 (72)发明人 王冰　高永亮　 (51)Int.Cl. G06F 17/50(2006.01) 权利要求书1页 说明书2页 附图3页 (54)发明名称 设计相位滞后校正环节的时域性能曲线图 法 (57)摘要 一种设计相位滞后校正环节的时域性能曲 线图法，其特征是以相位滞后校正环节的两个控 制参数分别为纵横坐标，建立一个有界的二维参 数设计空间；以时域控制性能指标为目标函数， 以相位滞后校正环节的两个控制参数为设计变 量，在参数设计空间内绘制各个控制性能指标的 等值线，得到系统的控制性能曲线图；控制性能 曲线图呈现了控制性能指标与校正环节参数之 间的一一对应关系；协调和对比各个性能曲线 图，可得到控制性能综合最优的校正环节参数， 完成校正环节的最优化设计。本发明具有直观、 A 系统和全面的特点。 9 2 7 6 6 0 7 0 1 N C CN 107066729 A 权　利　要　求　书 1/1页 1.一种设计相位滞后校正环节的时域性能曲线图法，其特征是以相位滞后校正环节的 两个控制参数分别为纵横坐标，建立一个有界的二维参数设计空间；以时域控制性能指标 为目标函数，以相位滞后校正环节的两个控制参数为设计变量，在参数设计空间内绘制各 个控制性能指标的等值线，得到系统的控制性能曲线图；控制性能曲线图呈现了控制性能 指标与校正环节参数之间的一一对应关系；协调和对比各个性能曲线图，可得到控制性能 综合最优的的校正环节参数，完成校正环节的最优化设计。 2 2 CN 107066729 A 说　明　书 1/2页 设计相位滞后校正环节的时域性能曲线图法 技术领域： [0001] 本发明属于机械工程控制领域，特别涉及一种设计相位滞后校正环节的时域性能 曲线图法。 背景技术： [0002] 如受控机械系统的控制性能(稳定性、准确性和快速性)不满足要求，则可通过在 系统中增加校正环节的方法，以改善受控机械系统的控制性能。相位滞后校正是常用的校 正方法之一。 [0003] 在机械工程控制领域，设计相位滞后校正环节最为常用的方法为应用伯德图进行 设计的频域设计方法。该方法一般以相位裕度为性能指标，借助伯德图通过解析计算确定 校正环节参数。该方法满足给定的相位裕度要求，是可行解，但不是最优解。对系统控制性 能评价的性能指标不仅仅是相位裕度，还有延迟时间、调整时间、最大超调量等时域性能指 标；在初步设计的基础上需要验算其它性能指标是否也满足要求，如不满足，需要多次反复 设计和验算，直到满足所有性能指标要求为至，繁琐而费时。另外，频域性能指标对系统控 制性能的评价是间接的；而时域性能指标对系统控制性能的评价是直接的。 [0004] 因对系统的控制性能有多方面的要求，多个控制性能指标间是相互矛盾的；校正 环节参数对系统控制性能的影响也是相互矛盾的。因此，校正环节的参数设计是一个非常 重要又非常困难的问题。 发明内容： [0005] 本发明针对现有