材料现代测试分析方法,材物0301-02.doc

西南科技大学试题与答案（B） 材料学院：课程名称：材料现代测试分析方法 课程代码：1138 命题人：材料系 学院：材料 专业班级：材物0301-02 学号： 命题共3页 一、名词解释（共20分，每小题2分。）1.弯曲振动 2.二次离子3.系统消光 4.衍射衬度 5.复型 6.物相分析 7.暗场像 8.质厚衬度9.特征振动频 10.差示扫描量热法二、填空题（共20分，每小题2分。） 1.电磁波谱可分为（）、（）和（）3个部分。2.光谱分析方法是基于电磁辐射与材料相互作用产生的特征光谱波长与强度进行材料分析的方法。吸收光谱与发射光谱按发生作用的物质微粒不同可分为（）光谱和（）光谱等。3.X射线等谱域的辐射照射晶体，电子是散射基元。晶体中的电子散射包括（）和（）两种。 4.电子束与固体物质（样品）相互作用可能产生的信息主要有（）（）、（）和（）。 5.单晶体X射线衍射分析的基本方法为（）和（）。6.电子能谱分析法是基于电磁辐射或运动实物粒子照射或轰击材料产生的电子能谱进行材料分析的方法，最常用的主要有（）、（）和（）三种。 7.红外辐射与物质相互作用产生红外吸收光谱，必须有分子偶极矩的变化。只有发生偶极矩变化的分子振动，才能引起可观测到的红外吸收光谱带，称这种分子振动为（），反之则称为（）。8.电子透镜有（）和（）两种类型。 9.透射电镜的两种基本操作是（）和（）。10.紫外光电子能谱、原子吸收光谱、波谱仪、差示扫描量热法的英文字母缩写分别是（）、（）、（）、（）。 三、判断题，表述对的在括号里打“√”，错的打“×”（共10分，每小题1分） 干涉指数表示的晶面并不一定是晶体中的真实原子面，即干涉指数表示的晶面上不一定有原子分布。（） 2.倒易矢量r*HKL的基本性质为：r*HKL垂直于正点阵中相应的（HKL）晶面，其长度r*HKL等于(HKL)之晶面间距dHKL的倒数。（） 3.二次电子像的分辨率比背散射电子像的分辨率高。（） 4.一束X射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射方向上才有可能产生衍射。（） 5.低能电子衍射（LEED）适合于分析所有固体样品的表面结构。（） 6.俄歇电子能谱适合于分析所有固体样品的表面化学成分。（） 7.X射线光电子能谱可用于固体表面元素的定性、定量和化学状态分析。（） 8.d-d跃迁和f-f跃迁受配位体场强度大小的影响都很大。（） 9.分子的振-转光谱是连续光谱。（） 10.无论测试条件如何，同一样品的差热分析曲线都应是相同的。（） 四、单项选择题（共10分，每小题1分。） 1.电子光谱是（）。 A、线状光谱B、带状光谱 C、连续光谱2.下列方法中，（）可用于测定Ag的点阵常数。A、X射线衍射线分析B、红外光谱C、原子吸收光谱D 紫外光谱子能谱 3.某薄膜(样品)中极小弥散颗粒(直径远小于1m)的物相鉴定，可以选择（）。 A、X射线衍射线分析B、紫外可见吸收光谱C、差热分析D、多功能透射电镜 4.几种高聚物组成之混合物的定性分析与定量分析，可以选择（）。A、红外光谱B、俄歇电子能谱C、扫描电镜D、扫描隧道显微镜 5.下列（）晶面属于[110]晶带。 A、（110）B、（011）C、（101）D、（011） 6.某半导体的表面能带结构测定，可以选择（）。A、红外光谱B、透射电镜C、X射线衍射D 紫外光电子能谱 7.要分析铁中碳化物成分和基体中碳含量，一般应选用（）。A、波谱仪型电子探针仪B、能谱仪型电子探针仪C、原子发射光谱D、原子吸收光谱 8.要测定聚合物的熔点，可以选择（）。 A、红外光谱B、扫描电镜C、差热分析D、X射线衍射 9.下列分析方法中，（）不能分析固体表面元素的含量。A、俄歇电子能谱B、X射线光电子能谱C、紫外光电子能谱 10.要鉴定某混合物中的硫酸盐矿物，优先选择（）。 A、原子吸收光谱B、原子荧光光谱C、红外光谱D、透射电镜 五、简答题（共40分，每小题8分）1.X射线照射固体物质时可能产生哪些信息？据此建立了哪些分析方法？ 2.从原理及应用方面指出X射线衍射、透射电透中的电子衍射在材料结构分析中的异同点（8分）答：X射线衍射、透射电透中的电子衍射在材料结构分析中的异同点列于下表 3.简述波谱仪和能谱仪在进行微区化学成分分析时的优缺点（8分） 4.简述有机、无机化合物电子光谱的主要类型（8分） 5.简述差热分析中放热峰和吸热峰产生的原因。（8分） 1