XRD简介及应用.ppt

峰巅法 切线法 半高宽中点法 3. 物相分析 x射线能够进行物相分析原因： 每种结晶物质都有自己特定的晶体结构参数，如点阵类型、晶胞大小、原子数目和原子在晶胞中的位置等。 x射线在某种晶体上的衍射必然反映出带有晶体特征的特定的衍射花样(衍射位置?、衍射强度)。根据衍射线条的位置经过一定的处理便可以确定物相是什么，这就是定性分析；根据衍射线条的位置和强度就可以确定物相有多少，这便是定量分析。 X射线物相定性分析原理 其原理非常简单，只要把晶体(几万种)全部进行衍射或照相，再将衍射花样存档，实验时，只要把试样的衍射花样与标准的衍射花样相对比、从中选出相同者就可以确定。定性分析实质上是信息(花样)的采集处理和查找核对标准花样两件事情。 Word数据报告 微晶粒尺寸的计算 在尺度为10-7~10-5cm相干散射区内，会引起可观测的衍射线宽化。利用微晶相干散射导致衍射宽化的原理，Scherre导出了微晶宽化表达式及其使用条件： Dhkl为垂直于反射面（hkl）的晶粒平均尺度；βhkl为衍射线的半高宽；λ为波长；θ为衍射角。K为常数。这个公式就是著名的谢乐公式，其适用范围：3nm~200nm。 半高宽 三强线 、 k取0.94； λ取0.1542；衍射强