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外差干涉术相关原理之导读
外差干涉術相關原理之導讀
(一)外差干涉術之原理
雙光干涉形式所構成的干涉儀是最普通的一種 。傳統的干涉術是將
待測訊息由干涉條紋的強度中抽取出來 ;而外差干涉術是將待測訊息由
干涉條紋的相位中抽取出來。傳統干涉術由兩頻率相同的波疊加 ,而外
差干涉術 主要是由兩道頻率稍微不同的波相互疊加形成干涉的現象 ,產
生的光強度隨時間、位置而變化的拍 (beat) 。
若有兩道光波 ,頻率分別為 ω和 ω ,電場振幅為 A ,電場的形式
1 2
因此可表示為 :
E (xt, ) Acos(t k x), (1.1)
1 1 1
E (xt, ) Acos( t k x). (1.2)
2 2 2
將電場疊加後得到的合成電場E可表示為 :
E(xt, ) E E Acos(t kx) Acos( t k x),
1 2 1 1 2 2
( )t(k k )x ( )t(k k )x (1.3)
2Acos 1 2 2 1 2 cos 1 2 2 1 2 .
疊加後的光強度 I 正比於E(xt, )2 ,所以
2
2 ( )t(k k )x ( )t(k k )x
I(xt, ) E(xt, ) 2Acos 1 2 2 1 2 cos 1 2 2 1 2
(1.4)
2 2 ( )t(k k ) x 2 ( )t(k k )x
4A cos 1 2 2 1 2 cos 1 2 2 1 2 ,
圖 1.不同頻率光波重疊干涉 。
2 ( )t(k k )x 2 ( )t(k k )x
(1.4)式中,cos 1 2 1 2 為高頻項 ,cos 1 2 1 2 則
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