第3部分数字电子技术基础试验.PDFVIP

第 3 部分 数字电子技术基础实验 第 3 部分 数字电子技术基础实验 3.1 TTL 与非门参数的测试 一、实验目的 1. 掌握 TTL 集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法。 2. 掌握 TTL 器件的使用规则。 3. 熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能和使用方法。 二、实验预习要求 1. 了解数字实验箱的基本结构及使用方法。 2. 了解TTL 与非门主要参数的定义和意义。 3. 熟悉各测试电路，了解测试原理及测试方法。 4. 熟悉 TTL 与非门 74LS00 的外引线排列。 5. 自拟实验步骤和数据表格。 三、实验原理 1. TTL 与非门的主要参数 TTL 与非门具有较高的工作速度、较强的抗干扰能力、较大的输出幅度和负载能力等优点,因而 得到了广泛的应用。 （1）输出高电平VOH 输出高电平是指与非门有一个以上输入端接地或接低电平时的输出电平值。空载时，VOH必须 大于标准高电平（VSH=2.4 V ），接有拉电流负载时，VOH将下降。测试VOH 的电路如图