纳米力学探针-新金属材料国家重点试验室-北京科技大学.PDF

纳米力学探针 一、简介 纳米显微力学探针是一种特殊的压入系统，能够连续记录载荷、位移数据，其实验载荷可小 至微克数量级。能够得到距材料表面几纳米厚的硬度和弹性模量，相当于电子探针的分辨率，是 目前普遍使用的微区力学性能测试手段。它是 80 年代末美国橡树岭国家实验室 Oliver 博士领导的 研究小组首先研制成功的。90 年代初开始商业化生产，很快就被欧美的研究机构普遍采用。我室 于 1993 年引进一台此纳米显微力学探针，当时为远东地区第一台。2005 年 11 月我们又引进了一 台Nano Indenter DCM ，它精度更高，功能更强大。 二、力学性能参数 Nano Indenter II Nano Indenter DCM 压头位移精度 0.04nm 0.0002nm 载荷精度 75nN 1nN 最大载荷 700mN 19mN 定位精度 400nm 2nm （纳米定位台） 最大压入深度 40um 15um 三、主要工作 1. Nano Indenter II 20μm 20μm W/Zr 复合材料界面处的显微力学性能分析 金属材料中脆性相的显微力学性能分析，测量裂纹长 度可以算出材料的断裂韧性 30 a P 28 G ,