数据分析及辅助工具-芯片测试技术-ictest.PDF

数据分析及辅助工具 专业IC测试网 — 《看我哒》 集成电路技术分享博客 2015-04-18 主要内容 2 /35 1 数据分析常见内容 2 测试BIN信息 3 CP Mapping 及 复测数据 4 多工位测试项分析 5 Data Correlation 6 GRR 测试 7 Production Lots 前言 3 /35 为什么要分析测试数据？ 大家常用的数据分析工具有哪些？ 你愿意花多少时间在分析测试数据上？效果如何？ 如何合理利用工具，进行快速有效的数据分析？ 数据基本信息 4 /35 常见分析内容 5 /35 常见分析内容 6 /35 STDEV，标准偏差，反映数值相对于平均值(mean) 的离散程度 CPK，制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化。 CPK = MIN(CPU, CPL) CPK 评级标准 A++ 级 CPK ≥ 2.0 特优 可以考虑成本的降低 A+ 级 2.0 ＞ CPK ≥ 1.67 优 应当保持 A 级 1.67 ＞ CPK ≥ 1.33 良 能力良好状态稳定，应尽力提升为A+ B 级 1.33 ＞ CPK ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有不良的危险 C 级 1.0 ＞ CPK ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升能力 D 级 0.67 ＞ CPK 不可接受 能力太差，应考虑重新整改设计制程 测试BIN信息 7 /35 CP 测试数据 8 /35 Test Name IN_OS POK_OS VCC_OS EN_OS FB_OS OUT_OS Test Number 1.1 1.2 1.3 1.4 1.5 1.6 Lower Limit -0.8 -0.8 -0.8 -0.8 -0.8 -0.8 Upper Limit -0.2 -0.2 -0.2 -0.2 -0.2 -0.2 Units V V V V