无源器件测试解决方案 - Viavi Solutions Inc.PDF

无源器件测试解决方案 2 JDSU 测试解决方案 JDSU已在光纤测试和测量领域从事创新20多年之久，致力于提供业内领先、经济实惠 的无源器件测试解决方案。JDSU无源器件测试解决方案以精准、耐久和独特的可扩展 性著称，构成了研究与开发 （研发）、验证和制造测试流程的基石。JDSU解决方案主 要用于在特定波长上和鉴定环境中测量插入损耗 （IL）、回波损耗 （RL）、极化依赖性 损耗 （PDL），还能对连接器进行检查和清洁。这些工具可保证测量结果的可靠性，从 而有助于您履行对客户的承诺。 针对各种技术的解决方案 J DSU无源器件测试解决方案适用于如今的网络基础架构中采用的各种光连接器、光 缆、器件和模块，包括： －用于SAN 和企业的多模光缆和连接器 －用于FTTx 的宽带器件和光缆 －用于 PON 和接入网的CWDM －用于城域网和远程网的DWDM ／ROADM 模块 针对产品寿命周期所有阶段的解决方案 无论在产品开发寿命周期中的哪一个阶段 （研发、验证或制造），JDSU测试解决方案 和产品方案都能满足您的成本和性能要求。这种能力经扩展后，可提供软件驱动程序或 完整的软件应用，以保证JDSU测试解决方案的快速、高效集成。 致力于符合国际标准 符合国际测量标准对于向客户保证所采用的测试方法的有效性至关重要。JDSU积极参 与适用于无源器件测试的国际标准 （尤其是IEC和T IA标准）的制定和维护。我们的产 品与有关主要标准保持一致并对这些标准加以引用。 创新传统与优良性能 JDSU在不断延续创新的历史。包括波长扫描系统在内的各种产品使DWDM测试发生了 彻底变革。对领先的JDSU光纤开关进行集成的能力保证了无与伦比的性能，同时以节 省成本的方式使制造过程具备了可扩展性。 卓越的支持服务 遍布全球的应用和服务支持专家可以随时满足您的实施和服务需求。 3 选型指南 MAP插入损耗／回波损耗测试仪5 mORL-A 1是一种功能强大的紧凑式插入损耗 （IL）和光回波损耗 （ORL）测试仪，可 与J DSU的高级MA P-200平台配合使用。一个单插槽模块最多包含4个光源 （13 10 、 1490 、1550 、1625 nm）、集成了功率计和用于自动双向测试的选配