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统计流程控制——控制图 控制图基础 是用来区分引起CTQ或X变化的是普通偏差（由于系统内部原因的偏差）还是特殊原因偏差（由于系统外部因素原因的偏差）的一种工具。 控制图基础 根据检测数据类型，分为： --品质控制图 --计量控制图 控制图基础 控制界限及说明 控制图的选择 控制图的选择 判别过程不受控原则 有一个点落在上下界限外 连续3个点中有2个点在±2倍标准差界限内 连续5个点中有4个点在±1倍标准差界限内 连续8个以上的点在中心线的一侧出现 连续8个以上的点有上升或下降趋势 一定数量的连续点在中心线附近集中 13个连续的点落在中心线两端的C区域内 控制图的判读原则 （1）应视控制图上的点为一分配，而不是单纯之点，即 应考虑到制程分配之变化情形。 （2）不必过分顾虑界限内之点动向。虽然异常之原因， 而制程顺利进时，其结果在界限内仍有差异之存在。 （3）只要点在界限内，原则上可视为在控制状态下。 （4）点子超出界限线外时，表示制程已发生异常原因， 在界限上之点子亦应视为制程已发生异常之原因。此种状态称为不在控制状态不或非控制状态下。 特殊排列因而判定制程异常 （1）点在中心线单侧连续出现7点以上时。这些点谓之连。（机率为0.8%） （2）点在中心线单侧出现较多时。 连续11点中至少有10点 连续14点中至少有12点 连续17点中至少有14点 连续20点中至少有16点 （4）点接近界限，在2 ?与3 ?间。 连续3点中有2点以上（机率为0.5%） 连续7点中有3点以上 连续10点中有4点以上 （5）点出现呈周期性变动 控制图minitab实战 I-MR 统计——控制图——单值的变量控制图——I-MR X-R 统计——控制图——子组的变量控制图——X-R P图（NP图） 统计——控制图——属性控制图——P（NP） U图 统计——控制图——属性控制图——U（C） I-MR 示例： 作为石灰石采石场的渠道经理，您要监视每周向重要客户运送的 45 批石灰石的重量（磅）和变异。每一批的重量应近似为 930 磅 。 操作步骤： 1打开工作表“质量控制示例.MTW”。 2?选择统计 控制图 单值的变量控制图 I-MR。 3在变量中，输入厚度。 4单击 I-MR 选项，然后单击检验选项卡。 5选择执行所有的特殊原因检验，然后在每个对话框中单击确定。 X-R 1、收集数据 （1）进行测量系统分析 （2）确定子组样本容量：小于9，常规选5 （3）确定子组频率 （4）确定子组数 2、建立控制图 X-R 示例： 部件之一的凸轮轴的长度必须为 600 毫米 +2 毫米以满足工程规格。凸轮轴长度不符合规格是一个长期以来的问题，它引起装配时配合不良，导致废品率和返工率都居高不下。您的主管要绘制 X 和 R 控制图以监控此特征，于是您在一个月中从工厂使用的所有凸轮轴收集共 100 个观测值（20 个样本，每个样本中 5 个凸轮轴），并从每个供应商处收集 100 个观测值。首先您将看到供应商 2 生产的凸轮轴。 操作步骤： 1打开工作表“凸轮轴.MTW”。 2选择统计 控制图 子组的变量控制图 Xbar-R。 3选择图表的所有观测值均在一列中，然后输入供应商2。 4在子组大小中，输入 5。单击确定。 X 控制图上的中心线在 600.23 处，表明您的过程落于规格限制范围内，但是有两点在控制限制以外，表明该过程不稳定。R 控制图上的中心线在 3.890 处，也远远超出了允许的最大变异 +2 毫米。因此您的过程中可能存在非常大的变异。 ? X-S 1、收集数据 （1）进行测量系统分析 （2）确定子组样本容量：大于9 （3）确定子组频率 （4）确定子组数：25个以上 2、建立控制图 X-S 示例： 您正在对 9 位严格进行节食和日常锻炼的病人研究其血糖水平。要监视病人血糖水平的平均值和标准差，请创建 X 和 S 控制图。您在 20 天中每天采集每位病人的血糖读数。 操作步骤： 1打开工作表“血糖.MTW”。 2选择 统计 控制图 子组的变量控制图 Xbar-S。 3选择图表的所有观测值均在一列中，然后输入血糖水平。 4在子组大小中，输入 9。单击确定。 P图 1、收集数据 （1）进行测量系统分析 （2）确定子组样本容量：大于50 （3）确定子组频率 （4）确定子组数：25个以上 2、建立控制图 P图 示例： 您在一家生产电视机显像管的工厂工作。对于每个批次，您都会抽取一些