《原子发射光谱(3)》.ppt

4. 试样的蒸发与原子激发 AES分析中，试样中各待测物产生光谱都要经过蒸发、原子化和激发等过程。由于试样中各化合物或元素的性质不同，在蒸发进入等离子体时的速度不同，产生了所谓的分镏效应。 此外，试样量、电极形状及温度等均会影响待测物的蒸发形为。 以各元素的谱线强度对曝光时间作图可得到蒸发曲线： 因此在AES分析中必须选择合适的光源条件和曝光时间。 二、分光系统（略） 三、检测系统、检测信号与浓度的关系 我们已知谱线强度 I与浓度成正比，即： logI = blogc + loga 但用什么来表征 I? 光电检测： 已知光信号产生的电流 i 与谱线强度I成正比，即 在曝光时间t内，检测到谱线的累积强度（总能量）为 测量电压（电容电压）为 即，谱线强度直接与测量电压成正比。 2. 相板（又称干板，Plate） 待测物发出的光谱经分光得一系列谱线，这些不同波长的光在感光板上曝光，经显影、定影后于相板上得到平行排列的谱线（黑线），这些谱线变黑的程度以黑度 S 来表示： 其中，I0，Ii分别为未曝光部分和已曝光部分的光强，T为透过率（%） 谱线“黑度”与待测物浓度有关。即 S=f(c) 那么相板检测器上谱线的黑度与浓度的具体数学表达式到底如何呢？ 相板定量基础： 1）曝光量 H 与相板所接受的光强I 或照度 E 及曝光时间 t 成正比: 2）曝光量 H 与黑度 S 之间的关系复杂——但可通过“乳剂特性 曲线”——得到二者之间的定量关系！ S ~ logH S0 logHi E D C B A b c S ? logH S0 —雾翳黑度 ； BC —正常曝光段； bc —展度； Hi —惰延量； ? —直线部分斜率，反衬度 从该曲线中直线部分得： 有关乳剂特性曲线的讨论： 展度bc：直线BC在横轴上的投影，它一定程度上决定相板检测的适宜浓度范围。 反衬度：直线BC的斜率 ?，它表征当曝光量改变时，黑度变化的快慢。 通常展度与反衬度相矛盾：反衬度大，则展度小；反之亦然。 惰延量：Hi 称为惰延量，它表征了乳剂的灵敏度。Hi 越大，乳剂越不灵敏。与 感光材料及其中卤化银颗粒度有关。 雾翳黑度：乳剂特性曲线下部与S 轴的交点所对应的黑度（S0）。它通常由显、 定影所引起的。 400 350 300 250 ? ?，nm ? 的大小除与乳剂特性、显影及定影条件有关外，还与谱线波长有关。左图为光谱分析中常用的未增感的紫外板反衬度随波长变化情况。 乳剂特性曲线的绘制： 因光强 I 与照度 E 或曝光量 H 及曝光时间 t 成正比，因此可用 S 对 logI 作图得到乳特性曲线。 方法1 改变照度法 1）Fe谱线组法 用测微光度计测量Fe的一系列波长相近的谱线的黑度S（各线强度 I 已准确测定），以S~logI 作图。 2）阶梯减光板法 阶梯减光板是镀有不同厚度铂层的石英片，因而每阶对光的透过率不同（logT 不同），以所测的 S 对logT作图。 方法2 改变曝光时间法（阶梯扇板法） 扇板以同步马达驱动，可得1:2:4:8:18等不同阶梯 的黑度S，以S对扇板不同缺口的相应曝光时间 t 的对 数 Logt 作图。 特别介绍 光电直读光谱仪：包括多道固定狭缝式（光量计）和单道 扫描式两种。 多元素同时检测 入射狭缝 出射狭缝 凹面光栅 R * 第五章 原子发射光谱分析 （Atomic Emission Spectroscopy，AES） 5.1 概述 5.2 基本原理 5.3 AES 仪器 5.4 定性定量分析方法 关键词： 1）分析对象为大多数金属原子； 2）物质原子的外层电子受激发射产生特征谱线（线光谱）； 3）谱线波长——定性分析；谱线强度——定量分析。