光传送网补充测试方法及规范WDMSDH.docVIP

光传送网补充测试方法 目 录 附1：一般情况下光通道保护倒换测试方法 1 附2：多种故障情况下光通道保护倒换测试方法 3 附3：GE和FE性能测试方法 4 附4：八大区2M电路测试方法 10  附1：一般情况下光通道保护倒换测试方法 由于在实际工程测试中，仪表数量有限，为了充分保证每个光通道的性能，本次工程测试按照光通道组成分为单厂家和多厂家两种情况：其中单厂家采用环回方式测试，多厂家采用双端挂表测试，具体的测试步骤和连接方式如下： 环回测试方法： 测试方法：一端挂表，另一端环回。 断纤位置：先断主用方向收发的光纤，测试通道倒换时间；恢复正常状态后，再断备用方向收发的光纤，测试通道是否正常。 注意：在断任何一个点的时候仪表都是通的，所有测试过程由督导技术负责人在网管监控及指导下进行，在网管采集每断开一点相应的单板告警，根据此告警判断连纤是否出现鸳鸯纤，详细情况见下图： 双端挂表测试方法： 测试方法：如下图连接好测试配置，检查两端仪表及保护处于正常状态； 在工作路径故障点“1”制造拔纤故障，查询A、B两点仪表的倒换时间并记录； 恢复故障点“1”，与网管确认主用路径恢复正常； 将主用通道强制倒换到备用通道，在备用路径故障点“2”制造拔纤故障，查询A、B两点仪表的倒换时间并记录； 恢复故障点“2”，与网管确认主备用路径恢复正常，测试完成。 图1 光通道1＋1保护倒换测试示意图  附2：多种故障情况下光通道保护倒换测试方法 WDM网络的测试参考点 WDM网络的六个测试参考点如下图所示： 图1 WDM网络测试参考点示意图（以2.5G为例） MPI-S：WDM系统的主光通道输出测试参考点； MPI-R：WDM系统的主光通道输入测试参考点； Sn：第n路波长的输出测试参考点； Rn：第n路波长的输入测试参考点； Rx：发送端TMUX或OTU的接收参考点（针对2.5G或10G）； Tx：接收端TMUX或OTU的发送参考点（针对2.5G或10G）。 注：所有插拔光纤建议在ODF架上操作 测试主要内容 在多故障情况下，光通道保护倒换的性能： 拔纤； 插入误码； 插入LOS等告警。 测试步骤（以北京－广州为例） 华为设备北京到广州段配置N＝1条10G 1+1光通路保护； 启动N2X多通道分析仪，仪表显示系统工作正常，若出现告警和误码等故障，检查系统和连接，直至仪表显示系统工作正常； 启动N2X的APS测试功能，依次拔掉Rn点（ODU之后、接收OTU之前）的接收光纤，从N2X仪表上记录业务受损时间； 重新启动N2X仪表APS测试功能，依次插入已拔掉的光纤，检查保护是否返回，若支持返回，记录返回业务受损时间； 将被拔掉的光纤依次改为Sn点（OMU之前和发送OTU之后）、Rx、Sx的光纤，重复步骤3）～4）； 在1个工作波长的ODU和接收OTU之间串接OTN分析仪，设置OTN为直通方式； 启动N2X的APS测试功能，直通OTN仪表插入LOS等告警，记录N2X仪表显示的业务受损时间； 取消OTN仪表的LOS等告警，检查保护是否返回，若支持返回，记录返回业务受损时间； 通过网管设置设备保护倒换误码检测门限为1×10E-2（若不支持保护倒换误码门限，则本测试例结束）； 启动N2X的APS测试功能，直通OTN仪表插入误码率倒换门限误码率，记录N2X仪表显示的业务受损时间； 直通OTN仪表停止加入误码率，重新启动N2X的APS测试功能，检查保护是否返回，若支持返回，记录返回业务受损时间； 修改误码率门限为1×10E-3，重复步骤10）～11）； 启动N2X的APS测试功能；利用网管依次将被检测业务的工作波长切换到保护波长，记录业务受损时间；然后再从保护波长切换到工作波长，记录业务受损时间。 测试过程中始终检测网管。 测试结果 测试结果如下表所示。 WDM光通道1+1保护测试结果 测试条件 业务受损时间(ms) 备注 1：保护(ms)/恢复(ms) 2：保护(ms)/恢复(ms) 拔插Rx点光纤 北京 广州 拔插Sn点光纤 北京 广州 拔插Rn点光纤 北京 广州 拔插Tx点光纤 北京 广州 在Rn点通过OTN直通仪表插入LOS等告警 在Rn点通过OTN直通仪表插入BER（1E-2） 北京 在Rn点通过OTN直通仪表插入BER（1E-3） 北京 WDM网管人工切换/清楚命令 WDM网管强制倒换/清楚命令 附3：GE性能测试方法 GE光接口 1.1 平均发送光功率 1．1．1 测试配置： 1.1.2 测试步骤： 根据测试配置图，连接被测设备和测试仪表； 对于以太网板一般输入口不需要送信号，如需要送信号，按输入口的等级，向输入口送