西北工业大学数电实验报告 试验一.doc

试验一 TTL集成逻辑门参数测试 同组人员 试验目的 加深了解TTL逻辑门电路的参数意义。 掌握TTL逻辑门电路的主要参数及测量方法。 认识各种电路及掌握空闲处理方法。 掌握各种TTL门电路的逻辑功能。 掌握验证逻辑门电路的方法。 掌握空闲输入端的处理方法。 试验设备 数字电路试验箱 数字双踪示波器 函数信号发生器 数字万用表 74LS00、电位器、电阻 试验原理 门电路是数字逻辑电路的基本组成单元，它最早是由分立元件构成，体积大，性能差，随着现代半导体工艺的快速发展和电路设计概念的不断改进，使所有分立元件连同分布线都集成在一小块硅芯片上，形成集成逻辑门。集成逻辑门是最基本的数字集成元件，在数字电路中被大量使用，因此它的特性参数选择得适当与否在很大程度上影响整个电路工作的可靠性，所以理解和掌握集成逻辑门的参数特性对数字电路设计至关重要。目前使用最普遍的双极型数字集成电路是TTL逻辑门电路，它们通常都采用双列直插式封装在集成芯片内。双列直插式集成电路的右下方引脚通常是地线GND，左上方引脚一般是电源线VCC，其它引脚的用途如图中门电路的符号所示，每个集成电路都有自己的代号，与代号对应的名称形象地说明了集成电路的用途。本实验中选用TTL74LS00二输入端四与非门进行参数的试验测试，以掌握电路的主要参数的意义和测试方法。 门电路是数字逻辑电路的基本组成单元，门电路按逻辑功能可分为：与门、或门、非门及与非门、或非门、异或门等。按电路结构组成的不同，可分为分立元件电路、CMOS集成门电路、TTL集成门电路等。集成门电路通常封装在集成芯片内，一般有双列直插和表面贴装两种封装形式。试验中常用的封装形式为双列直插式。每个集成电路都有自己的代号，与代号对应的名称形象地说明了集成电路的用途。如：74LS00是二输入端四与非门，她说明这个集成电路中包含了四个二输入端的与非门。 试验内容 形成峰峰值为5V，平均值为2.5V，频率为1KHz的方波，进行测试； 测试74LS00（二输入端四与非门）的逻辑功能； 用与非门实现与逻辑、或逻辑和异或逻辑。 试验数据 测试74LS00（二输入端四与非门）的逻辑功能 输 入 输 出 A B F 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0 用与非门实现与逻辑、或逻辑和异或逻辑 （1）与逻辑 输 入 输 出 A B F 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 （2）或逻辑 输 入 输 出 A B F 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 （3）异或逻辑 输 入 输 出 A B F 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 0 逻辑电路设计 与逻辑 A B AB 1 或逻辑 A 1 A+B B 1 异或逻辑 A B 波形记录 峰峰值 平均值 峰峰值 平均值 A 5.00V 2.50V B 5.00V 2.50V 0.00V 0.00V AB 5.26V 2.63V 5.14V 2.57V A+B 5.22V 2.61V 5.08V 2.54V 5.32V 2.66V 5.18V 2.59V A 5V 0 B B 5V 5V 0 0 AB AB 5V 5V 0 0 A+B A+B 5V 5V 0 0 5V 5V 0 0 试验一 TTL集成逻辑门参数测试 逻辑 关系 测量 项目 1