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武汉上谱分析科技有限责任公司分析方法描述.doc
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武汉上谱分析科技有限责任公司分析方法描述
1.1. 锆石LA-ICP-MS原位微区U-Pb定年和微量元素分析 2
1.2. In-situ U-Pb dating and trace element analysis of zircon by LA-ICP-MS 2
2.1.铀矿LA-ICP-MS原位微区U-Pb定年 3
2.2. In-situ U-Pb dating of uraninite by LA-ICP-MS 3
3.1. 独居石LA-ICP-MS原位微区U-Pb定年 4
3.2. In-situ U-Pb dating of monazite by LA-ICP-MS 4
4.1. 单矿物LA-ICP-MS原位微区微量元素分析 5
4.2. In-situ trace element analysis of minerals by LA-ICP-MS 5
5.1. 全岩微量元素含量分析 6
5.2. Trace element analyses of whole rock 6
6.1. 锆石阴极发光（CL）图像 7
6.2. Zircon cathodoluminescencent (CL) images 7
References 8
（××代表实验中激光束斑和频率的数值，根据具体实验条件填写。锆石常规分析条件为32 μm和5 Hz）
1.1. 锆石LA-ICP-MS原位微区U-Pb定年和微量元素分析
锆石U-Pb同位素定年和微量元素含量在武汉上谱分析科技有限责任公司利用LA-ICP-MS同时分析完成。详细的仪器参数和分析流程见Zong et al. (2017)。GeolasPro激光剥蚀系统由COMPexPro 102 ArF 193 nm准分子激光器和MicroLas光学系统组成，ICP-MS型号为Agilent 7700e。激光剥蚀过程中采用氦气作载气、氩气为补偿气以调节灵敏度，二者在进入ICP之前通过一个T型接头混合，激光剥蚀系统配置有信号平滑装置(Hu et al., 2015)。本次分析的激光束斑和频率分别为××μm和××Hz。U-Pb同位素定年和微量元素含量处理中采用锆石标准91500和玻璃标准物质NIST610作外标分别进行同位素和微量元素分馏校正。每个时间分辨分析数据包括大约20-30 s空白信号和50 s样品信号。对分析数据的离线处理（包括对样品和空白信号的选择、仪器灵敏度漂移校正、元素含量及U-Pb同位素比值和年龄计算）采用软件ICPMSDataCal (Liu et al., 2008; Liu et al., 2010)完成。锆石样品的U-Pb年龄谐和图绘制和年龄加权平均计算采用Isoplot/Ex_ver3 (Ludwig, 2003) 完成。
（岩石薄片中锆石U-Pb同位素定年参考Zong et al. (2010)）。
1.2. In-situ U-Pb dating and trace element analysis of zircon by LA-ICP-MS
U-Pb dating and trace element analysis of zircon were simultaneously conducted by LA-ICP-MS at the Wuhan SampleSolution Analytical Technology Co., Ltd., Wuhan, China. Detailed operating conditions for the laser ablation system and the ICP-MS instrument and data reduction are the same as description by Zong et al. (2017). Laser sampling was performed using a GeolasPro laser ablation system that consists of a COMPexPro 102 ArF excimer laser (wavelength of 193 nm and maximum energy of 200 mJ) and a MicroLas optical system. An Agilent 7700e ICP-MS instrument was used to acquire ion-signal intensities. Helium was applied as a carrier gas. Argon was used as the make-up gas
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