凸透镜凹透镜像屛平面反射镜.PPTVIP

薄透镜焦距的测定 一、实验目的： ? 了解简单光路的调整原则与方法——“同 轴等高”调节； ? 研究透镜成像的基本规律； ? 掌握几种测定薄透镜焦距的实验方法，并比 较它们的优缺点。 二、重点与难点 ?重点：掌握透镜焦距测量的几种方法。 ?难点：仪器调整和测量。 三、实验仪器 光学平台，凸透镜，凹透镜，像屛， 平面反射镜，光源，物屏，支架 四、实验原理 如图所示，在近轴光线的条件下，薄透镜成像的高斯公式为 ： 则焦距为： 其中 f ′为像方焦距；s′为像距；s为物距。各线距均从薄透镜中心(光心)量起，与光线进行方向一致为正，反之为负。 注意:测得量须添加符号，求得量则根据求得结果中的符号判断其物理意义。 （1） （2） 五、实验内容 ? 光具座上各光学元件“等高同轴”调整； ? 薄凸透镜焦距f（分别用“自准直法”、“物距像距法”、“贝塞尔法”测量）； ? 薄凹透镜焦距f； ? 实验数据处理计算。 各光学元件同轴等高的调节 将光源、物屏、待测透镜和像屏依次放在光学平台上，进行各光学元件同轴等高的粗调和细调。 粗调：用三角板辅助调整各元件的中心大致在与光学平台平行的同一条直线上，并使物平面，像屏平面和透镜面相互平行且垂直光学平台。 细调： 利用共轭法调整，固定物屏和像屏的位置，使D 4f，在物屏与像屏间移动凸透镜，可得一大一小两次成像。若两个像的中心重合，即表示已经共轴；若不重合，可先在小像中心作一记号，调节透镜高度，使大像的中心趋向小像中心（大像追小像）。如此反复调节透镜高度，直至大像的中心和小像中心完全重合。 1、物距像距法测凸透镜焦距 ①先粗略估计测量待测凸透镜焦距，在第1步的基础上，使物和像屏之间的距离略大于粗测焦距值的4倍，移动透镜，直到在像屏上看到清晰的像为止，记录物距s与像距s′，由公式(2)求出焦距f′。 ②改变屏的位置，重复3次测量，求其f′及其误差。 透镜焦距的测量 物屏P 凸透镜L 像屏N v u f 物距像距法 2、二次成像法（贝塞耳法） 运用物象的共轭对称性质，得到： 毋须考虑透镜本身 的厚度，因此较准确 条件： （3） ①同2 ① ，并记录物屏与像屏之间的距离D。 ②如图2所示，移动透镜，使屏上得到清晰的物像，记录透镜的位置。移动透镜至另一位置，使屏上又得到清晰的物像再记录透镜的位置，从而算出d ，并由公式(3)求出 f′。 ③改变屏的位置重复测3次，求其f ′及误差。 在待测透镜L的一侧放物 B，在另一侧放一平面反射镜 M，移动透镜，若物B正好位于凸透镜之前的焦平面，物B上任一点发出的光线经透镜折射后，变为平行光，被 M 反射回来。再经透镜折射后，仍会聚在它的焦平面上，即在原物平面上，形成一个与原物大小相等方向相反的倒立实像 B′。此时物到透镜之间的距离，就是待测透镜的焦距。 3、自准直法测凸透镜焦距 ①按上图所示放置光学元件，固定物屏，移动凸透镜L 。并绕铅直轴略转动靠近透镜的平面镜M，直到在物屏上得到一个与物等大倒立的清晰像为止(注意区分物光经凸透镜内表面和平面镜反射后所成的像，前者不随平面镜转动而移动)。 ②记录物屏与凸透镜L的位置，二者之差即透镜的焦距。 ③重复3次，求平均值。 4、由辅助透镜成像求凹透镜的焦距 先使物AB发出的光线经凸透镜L１后形成一实像A′B′，然后在L１和A′B′之间放入待测凹透镜L２，就能使虚物A′B′产生一实像A″B″。分别测出L２到A′B′和A″B″之间距离S２ 、S２′，根据式(2)即可求出L２的像方焦距f２′。 ①按上图所示，调节各元件共轴后，暂不放入凹透镜，移动凸透镜L１ ，使像屏上出现清晰的、倒立的、大小适中的实像A′B′，记下A′B′的位置。 ②保持凸透镜L１的位置不变，将凹透镜L２放入L１与像屏之间，移动像屏，使屏上重新得到清晰的、放大的、倒立的实像A″B″。 ③记录凹透镜L２的位置和A″B″的位置，算出物距s和像距s′，代入公式(2)求出f′。 ④改变凹透镜位置(注意使虚物距与所成实像像距两者的差不能太小)，重复测3次，求出f ′及其误差。 5.自准直法测凹透镜焦距 L2 A P L1 O1 O2 x1 x2 M 物A置于经会聚透镜L1的焦平面上，成实像于P，再在L1后放置发散透镜L2和平面镜M，调整 L2位置，使经L2的光线垂直射到平面镜M，再沿原路返回到A，则有 先用辅助凸透镜L1使物于像屏上成一小像，记下屏的位置x2。放入凹透镜与平面镜。移动平面镜与凹透镜（尽量使两者靠在一起同时移动），在物屏上成一与物对称的倒立实像，移动平面镜判断像是否变化，像不变时，记下凹透镜的位置x1。x2与x1之间的距离就是f2 注意事项 1．在使用仪器时要轻拿、轻放，勿使仪器受到震动和磨损