EMC测试设计及排查技术.ppt

EMC測試、設計及排查技術（三） Compliance Direction Systems Inc. Compliance Direction —— Direct to EM_Compliance （加拿大）容向系統科技有限公司 容 向 —— 專注於電磁相容方向 內 容 一、電磁相容測試標準及要求 二、電磁相容設計技術 三、電磁干擾【EMI】排查技術 四、電磁敏感性【EMS】排查技術 電磁干擾【EMI】排查技術 近場測量技術 近場探頭 EMSCAN電磁干擾掃描系統 遠場測試對調試的作用 頻譜圖：只有頻率資訊， 沒有位置資訊 近場測量 測量EUT上的電流：EMI是EUT上的高頻電流回路形成的。 精確定位EMI產生的源頭和分佈區域。 認識EMI的形成機理 電磁干擾【EMI】排查技術 近場測量技術 近場探頭 EMSCAN電磁干擾掃描系統 近場探頭構造 電場探頭的構造及回應 工具 —— 近場探頭 PA303：前置放大器，提高近場測量靈敏度 LF1：100kHz－50MHz，4個低頻磁場 RF1：30MHz－3GHz，3個磁場，1個電場 RF2：30MHz－3GHz，4個磁場 RF3：30MHz－3GHz，2個高解析度磁場 RF4：30MHz－1.5GHz，2個電場 PA303前置放大器 LF1 —— 低頻探頭組 RF1【3個磁場，1個電場】 RF2 RF3mini —— 高解析度 RF4-E —— 電場探頭組 電磁干擾【EMI】排查技術 近場測量技術 近場探頭 EMSCAN電磁干擾掃描系統 EMSCAN Emscan系統構成 頻譜掃描——找出頻率點 選擇幾個代表性探頭 選定頻率範圍,設定帶寬,執行測量 給出選定頻率範圍內各頻率的幅度峰值 得到有問題的頻率。 空間掃描——找出問題點 選定區域，設定頻率點 執行測量 即時顯示EMI位置和強度的圖形。 調整電路參數或者更換器件，能即時反映 觀測瞬態EMI 觀測設備不同狀態下的EMI 頻譜 / 空間掃描 得到每個物理位置的全頻段的EM強度 每個位置點可記錄一萬個頻率的幅度資訊 完整的EM文檔 利用合成頻譜和合成空間功能，分析 一個或幾個頻率的空間分佈 部分區域的頻譜 提高工作效率 快速定位干擾源位置 頻譜/空間掃描分析 EMSCAN——工程師必備手段 陣列探頭/電子掃描，即時看清活動的電磁場； 頻譜/空間掃描功能測量被測物全部電磁場資訊 科學、客觀、直觀地評估PCB設計質量 發現設計缺陷，提高設計質量 查找並定位瞬態電磁干擾； 迅速定位EMC測試及抗干擾測試失敗的原因； 幫助產品的調試、改進和完善 看到整板的電磁資訊，看清電路內部的輻射干擾情況。 評估結構設計對EMI/EMS的影響； 迅速積累正確的解決EMI問題的實踐經驗。 評估PCB設計質量 目的：及早發現設計缺陷，提高產品設計質量 利用EMSCAN的測量結果，從如下四個方面來評估PCB的設計質量： 頻率點數量：即諧波數量。 瞬態干擾：不穩定的電磁干擾。 輻射強度：各個頻率點的幅度大小。 分佈區域：各個頻率點的電磁干擾在PCB上的分佈區域的大小。 案例——評估PCB設計質量 A板為B板的改進： A板的頻率點數量明顯比B板少； A板的大部分頻率點的幅度比B板的小。 A板的瞬態干擾比B板的少。 案例——評估PCB設計質量 單頻率點——462MHz 應用——揭示瞬態EMI問題 目的：增加產品穩定性 瞬態EMI在EMC測量中往往不會被檢測到，但會影響產品的性能和可靠性 自動復位/死機 誤碼 工作不穩定 應用 —— 及早通過EMC測試 目的：EMI對策 EMC測試失敗的原因 不是EMI熱點引起的【不會是一個pin或者一條信號線】，1mm步距的“精密掃描”沒有意義 大面積的電流回流【差模輻射】 差模輻射轉換為共模輻射【共模輻射】 天線效應 認識EMI形成機理 電流回流 ——大面積 電流回流經過接插件 —— 差模變共模 迅速定位干擾源 頻譜/空間掃描資料 迅速定位干擾源 —— 寬帶和窄帶EMI 評估設計修改 EMI熱點不是主要問題，面積和特性才是主要問題 手持單探頭方案 速度慢 誤差大【探頭位置、方向等】，可重複性很差 機械式掃描系統 速度慢【幾十分鐘到幾個小時】 可重複性差 EMSCAN 高速即時，幾秒鐘就能清楚是否有效 可重複性好 如何評估設計修改 評估難度： PCB上產生的電磁場是不穩定的【例如5dB】 微小的共模電流的變化【例如2dB】會引起較大的輻射強度的變化 PCB上不穩定的電磁場 單次掃描結果 連續掃描，峰值保持的結果 EMSCAN評估設計修改 精確確定頻率點 小帶寬，小頻率範圍的頻譜掃描【帶寬設置為100kHz，甚至10kHz】 空間掃描＃1：連續掃描，峰值保持 1分鐘內整板【30×24cm】掃描150次以上 看