光耦测延迟试验.docVIP

光耦试验Ⅱ 今天对光耦的测试重新做了实验，修改了一下实验电路，在反相器输出端在接一级反相器以减小输出串联电阻对cd40106输出占空比的影响。 具体实验电路： 实验结果如下图所示： 光耦输入输出侧电压波形图（上升沿） 光耦输入输出侧电压波形图（下降沿） 由上图可知，光耦输入输出端上升沿输出端滞后约0.2us，下降沿延迟约0.1us 。 全周期波形图： 增加加速电容 具体电路原理图： 如上图说是，增加了两个101电容，如果增加102电容会出现上升爬坡现象，两个102会出现电压的反跳，具体的实验结果见下图。 由上图可以看出，下降沿的延迟有所改善，但是效果不是特别明显，如果加大电容会出现电压反跳和爬坡现象。 全周期波形图： 第三种方式测试(在二极管的阴极对地接一个2.5v直流电源) 具体实验电路原理图： 光耦输入端二极管两端波形与输出波形： 上升沿波形图如下： 下降沿波形图如下： 由上图可以知道，上升沿延迟时间约0.2us，下降沿延迟时间约为0.08us。 第四种方法测量： 具体实施的电路原理图： 在原电路上增加了两个101电容，具体的实验波形图如下： 上升沿波形如下： 下降沿波形如下： 由上图可知，再增加电容后对输出影响不大，而对光耦的二极管输入端波形下降沿有所提前。 实验结果总结： 本次是对电路进行了一定的修改，增加了一级反相器，使得cd40106的输出波形受输出电阻影响减小