北大数字集成电路课件--15_Verilog-testbench写法 .pptVIP

数字集成电路设计入门 --从HDL到版图 于敦山 北大微电子学系 第十五章 Verilog Test Bench使用简介 设计组织 test bench组织 并行块 包含文件 施加激励 线性激励 循环激励 数组激励 矢量采样 矢量回放 错误及警告报告 强制激励 强制激励 建立时钟 建立时钟 建立时钟 使用task 使用task 复习 * 学习内容： 用一个复杂的test bench复习设计的组织与仿真 建立test bench通常使用的编码风格及方法 虚线表示编译时检测输入文件是否存在及可读并允许生成输出文件。 简单的test bench向要验证的设计提供向量，人工验证输出。 复杂的test bench是自检测的，其结果自动验证。 stimulus 要验证的设计 简单的test bench 复杂的test bench 激励 验证结果 要验证的设计 fork…join块在测试文件中很常用。他们的并行特性使用户可以说明绝对时间，并且可以并行的执行复杂的过程结构，如循环或任务。 module inline_ tb; reg [7: 0] data_ bus; // instance of DUT initial fork data_bus = 8'b00; #10 data_bus = 8'h45; #20 repeat (10) #10 data_bus = data_bus + 1; #25 repeat (5) #20 data_bus = data_bus << 1; #140 data_bus = 8'h0f; join endmodule 上面的两个repeat循环从不同时间开始，并行执行。象这样的特殊的激励集在单个的begin…end块中将很难实现。 Time | data_ bus 0 | 8’b0000_0000 10 | 8’b0100_0101 30 | 8’b0100_0110 40 | 8’b0100_0111 45 | 8’b1000_1110 50 | 8’b1000_1111 60 | 8’b1001_0000 65 | 8’b0010_0000 70 | 8’b0010_0001 80 | 8’b0010_0010 85 | 8’b0100_0100 90 | 8’b0100_0101 100 | 8’b0100_0110 105 | 8’b1000_1100 110 | 8’b1000_1101 120 | 8’b1000_1110 125 | 8’b0001_1100 140 | 8’b0000_1111 包含文件用于读入代码的重复部分或公共数据。 module clk_gen (clk); output clk; reg clk; `include "common.txt" initial begin while ($ time < sim_end) begin clk = initial_clock; #(period/2) clk = !initial_clock; #(period/2); end $finish; end endmodule 在上面的例子中，公共参数在一个独立的文件中定义。此文件在不同的仿真中可被不同的测试文件调用。 // common. txt // clock and simulator constants parameter initial_clock = 1; parameter period = 15; parameter max_cyc = 100; parameter sim_end = period * max_cyc 产生激励并加到设计有很多 种方法。一些常用的方法有： 从一个initial块中施加线激励 从一个循环或always块施加激励 从一个向量或整数数组施加激励 记录一个仿真过程，然后在另一个仿真中回放施加激励 线性激励有以下特性： 只有变量的值改变时才列出 易于定义复杂的时序关系 对一个复杂的测试，测试基准(test bench)可能非常大 module inline_ tb; reg [7: 0] data_ bus, addr;