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SEEC SYSTEM 表面对 比增强椭圆偏振显微系统 免标记形貌分析 纳米级分辨率 ❖ 多种分析模式 ❖ 获取样品形貌 静态、动态测量；空气、液体环境； 完整的形貌研究（厚度/粗糙度/3D视场…） 记录、测量、分析样品VS温度，时间， 分辨率高达 0.2nm pH值等的变化 ❖ 高分辨率成像 ❖ 实时分析 直接获取样品高分辨率图像 90帧/秒，执行精确的形态学变化和相变的2D和3D 亚微米横向分辨率高达 300nm 动力学研究 ❖ 高灵敏度分析 ❖ 免标记技术 检测质量 （1ng/cm²)与结构（ 0.1nm)变化