QC七大手法下.pptVIP

* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * T 6σ Cp= ∣USL-u ∣or ∣u -LSL∣ 3σ Cpk=Min Cpk=Cp(1-Ca) ∣X- u ∣ (T/2) Ca = F(x) x USL u LSL X T= USL-LSL; σ=R/d2 Ca值愈小，品质愈佳；准确度 Cp愈大﹐制造能力愈强；精确度 Cpk愈大﹐制程综合能力愈好 Cpk值几个参数的计算方法及意义 CPK：Complex Process Capability index *  　　A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低  　　A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之  　　A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级  　　B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级  　　C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力  　　D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。 Cpk的评级标准 样本组 X1 X2 X3 X4 X5 1 40 40 38 43 41 2 40 42 39 39 39 3 42 39 41 43 40 4 40 40 39 42 41 5 42 39 42 43 40 6 43 41 41 40 41 7 43 38 37 42 41 8 37 43 43 35 40 9 40 39 42 41 44 10 39 41 41 36 38 某厂制造全铜棒,为控制其质量,选定内径为管制项目,并决定以X-R管制图来管制内径量度﹐规格范围﹕40+/-4.5mm 每小时随机抽取一组5个样本测定,共25组,数据记录如下﹕ 实例:平均数与全距管制图 样本组 X1 X2 X3 X4 X5 11 40 44 42 40 39 12 43 38 39 41 42 13 38 40 36 39 41 14 36 35 39 38 39 15 40 39 40 39 48 16 42 46 46 47 47 17 36 40 43 41 43 18 37 39 40 38 42 19 40 37 39 39 43 20 47 40 39 36 40 21 40 37 40 43 42 22 39 39 39 40 45 23 31 33 35 39 35 24 40 40 40 41 42 25 46 44 41 41 39 样本组 1 2 3 4 5 6 7 8 各组平均数 40.4 39.8 41 40.4 41.2 41.2 41.2 39.6 全距 5 3 4 3 4 2 6 8 样本组 10 11 12 13 14 15 16 17 各组平均数 39 41 40.6 38.8 37.4 41.2 45.6 40.6 全距 5 5 5 5 4 9 5 7 样本组 18 19 20 21 22 23 24 25 各组平均数 39.2 39.6 40.4 40.4 40.4 34.6 40.6 42.2 全距 5 6 11 6 6 8 2 7 计算出各组平均数与全距 X管制图上下限: CL= =40.264 UCL= + A2 =43.4249 LCL= - A2 =37.1031 R管制图上下限: CL= =5.48 UCL= =11.5867 LCL= =0 X=40.264 R=5.48查系数表,当N=5时,D4=2.115,D3=0 A2=0.577 X管制图上下限: 计算﹑与其他参数 X管制图 R管制图 UCL=11.59 CL=5.48 LCL=0 UCL=43.4 CL= 40.6 LCL=37.10 分析 在X管制图中有第16个及第23个样本组的点分别超出管制上限及管制下限,表示制程平均发生变化 而R管制图并无点超出界限或在界限上,表示制程变异并未增大. 正态性假设: 假设绝大多数质量特性均服从或近似服从正态分布. 3σ准则:P｛μ-3 σXμ +3σ｝ =99.73% 小概率原理:认为小概率事件一般不会发生. 反证法思想:控制点超出管制,则怀疑制程失控 管制图的判定依据 满足下列条件,即可认为制程是在管制状态: 多数之点子集中在中心线附近. 少数之点子落在管制界