X荧光光谱分析的制样技术，要求，以及对数据分析的影响.pptVIP

X荧光光谱分析的制样技术，要求，以及对数据分析的影响 制样目的 制样要求 制样方法 样品及制样技术对数据分析的影响 制样目的（1）X荧光分析是一种相对测量，需标准样与带侧样保持一直，因此需要制样。 （2）为了定量分析的需要。X射线的强度不但与元素自身的跃迁几率，荧光产额，吸收系数有关，还与几何条件有关，称为不均匀效应，（3）减小系统误差。样品中不同元素之间的基体效应可以通过制样来减少或者消除。 制样要求 （1）制备后的样品能代表要分析测试的整体材料； （2）表面平整光滑，样品均匀；如有可能，样品厚度应达到所需的无限厚度。 （3）标准物中待测元素的含量可靠。 （4）标准样品的化学组成和物理性质与待测样品一致，物理和化学性质稳定，便于长期保存和使用。 （5）具有多个含量不同的标准样品系列，标准样品的元素含量范围包含待测元素含量的最大值和最小值。 （6）分析新的试样时，要进行粉碎时间的试验。 （7）压片时，压力要均匀。 制样方法 （1）固体样品或者金属合金的制备： 用车床 把样品车成圆柱样品，有一端的表面要磨平抛光。使用前，不要用手摸光的表面，以免表面沾了油污，影响测量精度。如果沾上了油污，用干净绒布擦试干净。 （2）粉末样品的制备 粉末样品量较大，因此制样步骤较多如下： 批样→小样…→大量样品→破碎→缩分→制样→测定 粒度要求小于20