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测量系统所应具有的特性 测量系统必须处于统计控制中，这意味着测量系统中的变差只能是由于普通原因而不是由于特殊原因造成的。这可称为统计稳定性。 测量系统的变异必须比制造过程的变异小。 变异应小于公差带。 测量精密应高于过程变异和公差带两者中精度较高者，一般来说，测量精度是过程变异和公差带两者中精度较高者的十分之一。 测量系统统计特性可能随着被测项目的改变而变化。若真的如此，则测量系统的最大的变差应小于过程变差和公差带两者中的较小者。 评价测量系统的三个基本问题 测量系统是否有足够的分辨力？(解析能力) 这种测量系统在一定时间内是否在统计上保持一致？(重复性和再现性) 这些统计性能在预期范围内是否一致？(线性) 这些问题要和过程变差联系起来。(是否足够小) 分辨率的要求 建议的要求是总过程6σ(标准偏差)的十分之一。 传统是公差范围的十分之一。 测量系统研究的淮备 评价人的数量，样品数量及重复读数次数应预先确定。在此选择中应考虑的因素如下： 尺寸的关键性：关键尺寸需要更多的零件和／或试验，原因是量具研究评价所需的可信度。 零件结构：大或重的零件可规定较少样品和较多试验。 测量系统研究的淮备 由于其目的是评价整个测量系统，评价人的选择应从日常操作该仪器的人中挑选。 样品必须从过程中选取并代表其整个工作范围。有时每一天取一个样本，持续若干天。这样做是有必要的，因为分析中这些零件被认为代表生