原子荧光光谱法 仪器分析选修课课件技术方案.pptVIP

10 10 10 10 10 * 2.3.3 原子荧光光谱法 一、概述 二、原子荧光光谱分析的基本原理 三、原子荧光分析中仪器装置 四、原子荧光分析中的干扰和消除 五、原子荧光光谱法的应用 X射线荧光分析 一、概述 1964年以后发展起来的分析方法。原子荧光分析法：以原子在辐射能激发下发射的荧光强度进行定量分析的发射光谱分析法。  原子荧光光谱法——概 述 原子荧光光谱法 （atomic fluorescence spectrometry AFS） 原子荧光光谱的产生 气态基态原子吸收特征辐射后跃迁到较高能级10-8秒，然后回到基态或较低能级，发射出与照射光相同或不同波长的光，即为原子荧光。 原子荧光为光致发光（或二次发光），激发光源停止照射后，荧光也不再发射。 原子荧光光谱法——基本原理 1、原子荧光光谱法基本原理 2．原子荧光的类型 共振荧光(resonance fluorescence)， 非共振荧光(non resonance fluorescence) 敏化荧光(sensitized fluorescence) 原子荧光光谱法——基本原理 共振荧光 非共振荧光 光子 光子 3、原子荧光光谱法的特点优点：1)检出限低，灵敏度高：背景辐射低；适合痕量元 素测定。 Pg(10-12) 低检出限：Cd-0.0